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中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)理化科學(xué)
實(shí)驗(yàn)中心
理化科學(xué)中心是中國(guó)科學(xué)院1979年開(kāi)始籌建的大型公共服務(wù)測(cè)試中心。在“211工程”，“985工程”的建設(shè)中，更新和添置了30多臺(tái)大中型理化測(cè)試儀器，現(xiàn)有儀器涵蓋了對(duì)物質(zhì)結(jié)構(gòu)形貌表征，譜學(xué)表征，成分分析和物性測(cè)量的多個(gè)領(lǐng)域。作為學(xué)校的大型理化科學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，為國(guó)家實(shí)驗(yàn)室、重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、“973、”“863”及其它科研項(xiàng)目的完成提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支撐，對(duì)相關(guān)學(xué)科提供教學(xué)、科研實(shí)驗(yàn)條件與環(huán)境，同時(shí)接受社會(huì)單位的委托測(cè)試服務(wù)。
為確保理化科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心檢測(cè)的公正性，科學(xué)性和準(zhǔn)確性。中心有嚴(yán)格的樣品測(cè)試管理辦法。在規(guī)定的周期內(nèi)對(duì)所有儀器進(jìn)行檢定，對(duì)所用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)定期進(jìn)行量值溯源。不間斷地對(duì)所用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行更新。保證所采用標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)行有效。中心在1994年通過(guò)了國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局組織的計(jì)量認(rèn)證審核，并于2000年、2006年和2009年三次通過(guò)了國(guó)家認(rèn)監(jiān)委的計(jì)量認(rèn)證的復(fù)評(píng)審。獲得實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)定—計(jì)量認(rèn)證合格證書。
目前中心所開(kāi)展的業(yè)務(wù)范圍是：無(wú)機(jī)物成分的定性定量分析；有機(jī)物成分定性定量及其結(jié)構(gòu)、物理性能分析；物相及相變分析；晶體點(diǎn)陣、取相及精細(xì)結(jié)構(gòu)分析；固體表面形貌、濃度及膜厚度分析；元素化學(xué)態(tài)的測(cè)定；熱分析等。
中心目前有教工49人，其中高級(jí)職稱以上人員占總數(shù)的50%以上，中級(jí)職稱以上人員占總數(shù)的80%以上。
大型儀器列表
| 儀器名稱 | 型號(hào) | 廠家 |
| 元素分析儀（O） | Vario?EL?cube | 德國(guó)元素分析系統(tǒng)公司（Elementar） |
| 2011-05-23元素分析儀（CHN） | Vario?EL?cube | 德國(guó)元素分析系統(tǒng)公司（Elementar） |
| 2010-09-27四圓單晶X射線衍射儀 | Gemini?S Ultra | 廠 家：牛津衍射公司（Oxford?diffraction) |
| 2010-09-27超高分辨透射電子顯微鏡 | JEOL—2010 | 日本國(guó)日本電子公司 |
| 2010-09-27離子色譜儀 | ICS-3000 | Dionex?Corporation?(USA) |
| 2010-09-27深紫外—可見(jiàn)—近紅外分光光度計(jì) | DUV—3700 | 日本島津公司 |
| 2010-09-27樣品水平型大功率X射線粉末衍射儀 | TTR-III | 日本國(guó),?理學(xué)電機(jī)公司（Rigaku） |
| 2010-09-27超導(dǎo)傅立葉數(shù)字化核磁共振譜儀 | AVANCE?III?400 | 瑞士布魯克公司 |
| 2010-09-27感應(yīng)耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀 | Optima?7300?DV | Perkin-Elmer?Coperation?(USA) |
| 2010-09-27感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀 | X?Series?2 | Thermo?fisher?Scientific?(USA) |
| 2010-09-27元素分析儀（S） | Vario?EL?III ? | 德國(guó)元素分析系統(tǒng)公司（Elementar） |
| 2010-09-27精密SQUID磁學(xué)測(cè)量系統(tǒng) | MPMS?XL－7 | 美國(guó)Quantum?Design公司 |
| 氣相色譜-飛行時(shí)間質(zhì)譜連用儀 | GCT ? | 英國(guó)質(zhì)譜公司 |
| 2010-09-27多功能物性測(cè)量系統(tǒng) | PPMS-14T | 美國(guó)?Quantum?Design |
| 2010-09-27高效液相色譜儀 | LC-20AD | 日本島津公司 |
| 2010-09-27微量差示掃描量熱儀 | VP-DSC | 美國(guó)Microcal公司 |
| 2010-09-27高性能電子能譜儀 | ESCALAB?250 | Thermo-VG?Scientific |
| 2010-09-27熱分析儀 | DTG-60H、DSC-60 | Shimadzu公司 |
| 2010-09-27高分辨透射電子顯微鏡 | JEOL?–?2010? | 日本電子株式會(huì)社 |
| 2010-09-27穩(wěn)態(tài)壽命螢光譜儀 | FLUOROLOG-3-TAU? | 法國(guó)Jobin?Yvon公司 |
| 2010-09-27高頻紅外碳硫分析儀 | CS600 | LECO,?USA |
| 2010-09-27電子順磁共振波譜儀 | JES-FA200 | 日本電子株式會(huì)社(JEOL) |
| 2010-09-27感應(yīng)耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀 | Atomscan?Advantage | 美國(guó)熱電佳爾－阿許公司?Thermo?Jarrell?Ash?Corporation(USA) |
| 2010-09-27高真空掃描探針顯微鏡系統(tǒng) | SPA-300HV?&SPI3800N | 日本精工儀器公司(Seiko) |
| X射線衍射儀 | X’Pert?PRO? | PHILIPS |
| 2010-09-2718KW轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 | MXPAHF?型 | 日本瑪珂公司 |
| 2010-09-27原子吸收光譜儀 | AAnalyst?800 | Perkin?Elmer? |
| 2010-09-27X射線熒光光譜儀 | XRF-1800 | 日本?SHIMADZU公司 |
| 2010-09-27全自動(dòng)微孔物理吸附和化學(xué)吸附分析儀 | ASAP?2020?M+C | 美國(guó)Micromeritics |
| 2010-09-27原子熒光光度計(jì) | AFS—230a | 北京萬(wàn)拓儀器有限公司 |
| 2010-09-27激光共焦顯微拉曼光譜儀 | LABRAM-HR | 法國(guó)JY公司 |
| 2010-09-27場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | Sirion200 | FEI |
| 2010-09-27熱膨脹儀 | DIL?402?C?(1600?℃model) | 德國(guó)耐馳(Netzsch)公司 |
| 2010-09-27超導(dǎo)傅立葉數(shù)字化核磁共振譜儀 | AVANCE?AV?400 | 瑞士布魯克公司 |
| 2010-09-27場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | JSM—6700F | 日本電子公司JEOL |
| 2010-09-24全自動(dòng)比表面積和孔隙分析儀 | Tristar II 3020 M | 美國(guó)Micromeritics |
| 差示掃描量熱儀 | DSCQ2000 | 美國(guó)TA公司 |
| 2010-09-24靜態(tài)熱機(jī)械分析儀 | TMAQ400 | 廠商：美國(guó)TA公司 |
| 2010-09-24動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀 | DMTAQ800 | 美國(guó)TA公司 |
| 2010-09-24熱重-差熱分析儀（Q600） | SDTQ600 | 美國(guó)TA公司 |
| 2010-09-24熱重分析儀（Q5000） | Q5000IR | 美國(guó)TA公司 |
| 2010-09-20傅里葉變換紅外光譜儀 | Nicolet?8700 | 美國(guó)熱電儀器公司(Thermo?Scientific?Instrument?Co.?U.S.A) |
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