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中國(guó)科學(xué)院合肥戰(zhàn)略能源和物質(zhì)科學(xué)大型儀器區(qū)域中心
中國(guó)科學(xué)院大型儀器區(qū)域中心是中國(guó)科學(xué)院依據(jù)區(qū)域特點(diǎn)與學(xué)科共性，結(jié)合區(qū)域內(nèi)裝備需求以及現(xiàn)有裝備，采取鼓勵(lì)大型儀器設(shè)備自主創(chuàng)新研制、功能開發(fā)，擇優(yōu)支持購(gòu)置、研制先進(jìn)的大型儀器設(shè)備等措施，與區(qū)域內(nèi)其他資源（大科學(xué)裝置、國(guó)家科技條件平臺(tái)、重大科研裝備研制）有效組合，依托優(yōu)秀研究所建設(shè)集大型儀器設(shè)備、一流科技人才、重大科研任務(wù)于一體的特色明顯、功能強(qiáng)大的綜合型研究實(shí)驗(yàn)中心。?
大型儀器區(qū)域中心作為中國(guó)科學(xué)院技術(shù)支撐系統(tǒng)的重要組成部分，其主要任務(wù)是推動(dòng)大型儀器設(shè)備的區(qū)域共建、共享和優(yōu)化配置，提高大型儀器設(shè)備的使用效益，促進(jìn)研究所之間跨學(xué)科的科研合作，提升大型儀器設(shè)備自主創(chuàng)新的功能開發(fā)和研制能力，為區(qū)域科技、經(jīng)濟(jì)和社會(huì)發(fā)展提供有效支撐作用，滿足科技創(chuàng)新跨越與持續(xù)發(fā)展的要求。
中國(guó)科學(xué)院合肥戰(zhàn)略能源和物質(zhì)科學(xué)大型儀器區(qū)域中心由中科院合肥物質(zhì)研究院牽頭建立，成員單位包括等離子體物理所、固體物理所、安徽光機(jī)所、合肥智能所、技術(shù)生物所、強(qiáng)磁場(chǎng)科學(xué)中心、核能安全所、醫(yī)學(xué)物理中心、先進(jìn)制造所以及中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)。中心的建設(shè)目標(biāo)是以滿足科技創(chuàng)新需求為導(dǎo)向，以建立共享服務(wù)機(jī)制為核心，以建設(shè)支撐綜合性物質(zhì)科學(xué)國(guó)家研究基地為目的，對(duì)科技裝備資源進(jìn)行有效整合，加強(qiáng)自主研制和系統(tǒng)集成，科學(xué)布局增量資源，完善存量資源，構(gòu)建布局合理、功能齊全、開放高效、配置完整的科技創(chuàng)新保障體系，提高對(duì)外服務(wù)水平，增強(qiáng)自主創(chuàng)新能力。為建設(shè)國(guó)際著名、國(guó)內(nèi)一流綜合性物質(zhì)科學(xué)國(guó)家研究基地提供科技創(chuàng)新支撐。
充分發(fā)揮我院在戰(zhàn)略能源和物質(zhì)科學(xué)研究領(lǐng)域現(xiàn)有的優(yōu)勢(shì)，對(duì)儀器設(shè)備資源、人力資源、技術(shù)資源等進(jìn)行統(tǒng)一的規(guī)劃、管理。實(shí)行“集中管理、資源共享、科研優(yōu)先、兼顧培訓(xùn)、對(duì)外開放”的原則，提高現(xiàn)有資源的利用率和大型科學(xué)儀器設(shè)備的管理水平，使科研裝備更好地為知識(shí)創(chuàng)新和國(guó)民經(jīng)濟(jì)、社會(huì)發(fā)展服務(wù)。
大型儀器列表
| 編號(hào) | 儀器名稱 | 儀器型號(hào) | 儀器用途 |
| 1 | CRAIC顯微分光光度計(jì)和高速微型光譜儀 | 20/30PV | 顯微光譜 |
| 2 | 變溫變場(chǎng)下太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量系統(tǒng) | C-Fiber 780 | 太赫茲時(shí)域光譜分析 |
| 3 | 光譜輻照度標(biāo)準(zhǔn)燈-漫反射參考板定標(biāo)系統(tǒng) | 自主集成 | 可見、近紅外、中紅外光譜測(cè)量 |
| 4 | 脈沖激光薄膜沉積系統(tǒng) | PLD-203S | 功能薄膜生長(zhǎng)；器件原位制備；金屬電極沉積,脈沖激光制備功能性氧化物薄膜 |
| 5 | 水體重金屬在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) | LIBS-STZJS-01 | 無(wú)機(jī)定量分析 |
| 6 | 氡測(cè)量?jī)x | RAD-7 | 室內(nèi)氡濃度檢測(cè) |
| 7 | 熱釋光劑量?jī)x | RGD-3D | 劑量檢測(cè) |
| 8 | x/γ劑量率儀 | IN1k | 光子輻射檢測(cè) |
| 9 | 傅里葉變換紅外光譜儀 | Matrix-M01 | 紅外光譜測(cè)量 |
| 10 | 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES | SPECTRO ARCOS FHX22 | 太陽(yáng)級(jí)硅材料切片分析檢測(cè) |
| 11 | 定氮檢測(cè)系統(tǒng) | Kjeltec 8200 | 凱氏定氮 |
| 12 | 轉(zhuǎn)靶（Cu靶）X-射線單晶衍射系統(tǒng) | XtaLAB PRO 007HF（Cu） | 蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 |
| 13 | 應(yīng)變測(cè)試裝置 | 非標(biāo) | ? |
| 14 | 高壓半制備液相色譜儀 | LC-16P | 高壓半制備液相色譜 |
| 15 | 磁力顯微鏡 | MFM-MP3 | ? |
| 16 | 600兆液體核磁共振譜儀 | AVANCE III 600MHz/54mm | 核磁共振一維、二維、三維實(shí)驗(yàn) |
| 17 | 500兆液體核磁共振譜儀 | AVANCE III 500MHz/54mm | 核磁共振一維、二維、三維實(shí)驗(yàn) |
| 18 | 真空熱處理爐 | ZRMT-210-9W4 | 超低溫臨界電流、n值測(cè)試,熔融、結(jié)晶及固相相變過(guò)程,超導(dǎo)線材性能和生物樣品性能分析 |
| 19 | 流式細(xì)胞儀 | Merck Guava 5HT | 分選流式 |
| 20 | 極端高壓超快光學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái) | Legend Elite-Hidra MPA | ? |
| 21 | 藥物高通量篩選系統(tǒng)（500MHz 超導(dǎo)傅立葉核磁共振譜儀及自動(dòng)進(jìn)樣器5X96+96位） | AVANCE NEO 500 | 高通量篩選 |
| 22 | 蛋白質(zhì)穩(wěn)定性測(cè)試儀 | Prometheus NT.48 | 熱穩(wěn)定性 |
| 23 | 蛋白純化儀 | AKTA Pure 25M1 | 蛋白質(zhì)分離純化 |
| 24 | 激光拉曼光譜儀系統(tǒng)-2 | LabRamHR Evolution | 熒光光譜探測(cè),紫外可見近紅外光譜測(cè)量,物相分析,材料的發(fā)光性能 |
| 25 | Instron 8862蠕變疲勞試驗(yàn)機(jī) | Instron 8862 | 疲勞試驗(yàn) |
| 26 | SU8220冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | SU8220 | SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征 |
| 27 | GeminiSEM 500肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | GeminiSEM 500 | SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征,元素成分線、面分布能譜分析 |
| 28 | 瞬態(tài)電子束熱負(fù)荷沖擊設(shè)備 | EBO-100-30 | 熱負(fù)荷沖擊 |
| 29 | 熱脫附譜 | TPD WorkStation | H/He等滯留和脫附特性測(cè)量 |
| 30 | 熱分析測(cè)試系統(tǒng) | DSC404F3 | 熱重分析儀一般分析 |
| 31 | 高溫電子萬(wàn)能力學(xué)性能試驗(yàn)機(jī) | AG-Xplus100KN | 高溫拉伸 |
| 32 | 高溫摩擦磨損試驗(yàn)機(jī) | MFT-5000 | 材料的摩擦系數(shù)和磨損量 |
| 33 | 高真空微透鏡激光位移測(cè)量系統(tǒng) | Q120150449 | 多功能物性測(cè)試 |
| 34 | 高性能電子能譜儀 | ESCALAB 250Xi | 材料成份和元素化學(xué)態(tài)分析,深度剖析,表面成分和元素化學(xué)態(tài)分析,表面功函數(shù),固體價(jià)帶結(jié)構(gòu) |
| 35 | 超高真空分子束沉積系統(tǒng) | Cubic MBE | 多功能物性測(cè)試 |
| 36 | 9T無(wú)液氦超導(dǎo)磁體低溫物性測(cè)試系統(tǒng) | TeslatronPT-9T | 多功能物性測(cè)試 |
| 37 | 高性能計(jì)算集群 | TC4600 | 大規(guī)模并行計(jì)算 |
| 38 | 流式細(xì)胞儀 | CytoFLEX A00-1-11002 | 流式細(xì)胞儀 |
| 39 | 車載機(jī)動(dòng)車尾氣分析儀 | SEMTECH ECOSTAR | 尾氣濃度、尾氣排放量,紅外光譜測(cè)量 |
| 40 | 熒光定量PCR儀 | LightCycler 96 | 化合物定性定量分析 |
| 41 | 超導(dǎo)量子磁性測(cè)量?jī)x | MPMS-175 | 樣品磁結(jié)構(gòu)分析,樣品磁結(jié)構(gòu)分析 |
| 42 | 紅外傅里葉變換光譜儀 | Nicolet IS50 | 可見、近紅外、中紅外光譜測(cè)量 |
| 43 | 高靈敏中遠(yuǎn)紅外探測(cè)系統(tǒng) | PE9＆VEGA | 激光功率能量測(cè)量 |
| 44 | 高功率半導(dǎo)體激光驅(qū)動(dòng)器 | D4F2J22 | 高功率光纖激光器的泵浦源 |
| 45 | DFG紅外激光光源 | C-Comb | 中紅外波段的激光光源 |
| 46 | F-P掃描干涉儀 | SA210 | 單縱模激光器模式特性分析 |
| 47 | 太陽(yáng)跟瞄及全自動(dòng)測(cè)量光機(jī)電系統(tǒng) | A547N | 可見、近紅外、中紅外光譜測(cè)量 |
| 48 | 長(zhǎng)光程多次反射樣品池 | 911-0016/7890B-5977B | ? |
| 49 | 中紅外光束質(zhì)量分析儀 | PY-IV-C-A | 中紅外波段的激光光源 |
| 50 | 中紅外激光波長(zhǎng)計(jì) | WS7 IR II | 中紅外波段的激光光源 |
| 51 | 光學(xué)收發(fā)系統(tǒng) | 卡式 | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 52 | 脈沖激光器系統(tǒng) | Poerlite8000;DFB;OPO | 激光大氣傳輸 |
| 53 | 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡(G2 F20) | Tecnai G2 F20 | 透射電鏡一般分析,透射電鏡高分辨分析,元素成分線、面分布能譜分析 |
| 54 | 半導(dǎo)體光電性能測(cè)試系統(tǒng) | PVIV-1A/94023A | 電池I-V、IPCE測(cè)試 |
| 55 | 電化學(xué)綜合測(cè)試儀 | CIMPS-2 | 電化學(xué)測(cè)試 |
| 56 | 真空熱蒸發(fā)鍍膜系統(tǒng) | JS-DSQ280 | 薄膜制備 |
| 57 | 多功能磁控濺射系統(tǒng) | JGP-450B | 薄膜制備 |
| 58 | 中紅外激光頻譜分析儀 | WS6-200-IR-III | 中紅外頻譜分析 |
| 59 | 中紅外光源 | PCI-1D | 氣體光譜檢測(cè) |
| 60 | 紅外光源 | AP-CW-1980 | 2um種子光源 |
| 61 | 1微米脈沖光纖激光器 | AP-QS-1064 | 1um窄線寬光纖激光器 |
| 62 | 真空低溫探針臺(tái) | Lakeshore TTPX | 真空低溫探針臺(tái)樣品電學(xué)測(cè)量 |
| 63 | 直讀光譜儀 | ChemReal3764 | 元素成分定性定量分析 |
| 64 | 脈沖波長(zhǎng)計(jì) | WS6-600 UV WS6-600 IR-II | 脈沖波長(zhǎng)計(jì) |
| 65 | 脈沖光束質(zhì)量分析儀 | HPM2-200s-FW / LaserDec CR200 | 脈沖光束質(zhì)量分析儀 |
| 66 | 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 | EVO 18 | 微觀尺度 |
| 67 | 小動(dòng)物活體成像系統(tǒng) | IVIS Spectrum | ? |
| 68 | 真空高低溫模擬試驗(yàn)系統(tǒng) | 定制 | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 69 | 分光光度計(jì) | solidspec-3700 | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 70 | 高精度BRDF絕對(duì)測(cè)量系統(tǒng) | 定制 | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 71 | 紫外-短波紅外輻射光譜現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)傳遞系統(tǒng) | 自主集成 | 探測(cè)器光譜響應(yīng)度絕對(duì)定標(biāo) |
| 72 | opo激光器 | os4500-hp+ | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 73 | 可見短波紅外波長(zhǎng)計(jì) | 621a | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 74 | 正電子湮滅壽命譜儀 | PLS-SYSTEM | 正電子湮滅壽命測(cè)量 |
| 75 | 二維線性離子阱-電場(chǎng)軌道阱質(zhì)譜儀 | Orbitrap Velos Pro | 蛋白質(zhì)測(cè)序 |
| 76 | 太陽(yáng)電池標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng) | solar3A | 太陽(yáng)電池I-V測(cè)試 |
| 77 | 全性能染料敏化太陽(yáng)電池老化系統(tǒng) | BR-PV | 太陽(yáng)電池?zé)崂匣?太陽(yáng)電池光老化 |
| 78 | 電化學(xué)掃描探針顯微鏡 | ElProScan | 表面微區(qū)電化學(xué)分析測(cè)試 |
| 79 | 時(shí)間分辨太赫茲光譜系統(tǒng) | CIP-ABPD3 | 測(cè)試自由載流子信號(hào) |
| 80 | 電化學(xué)掃描探針顯微鏡ELP3 | EL_Proscan ELP3 | 表面微區(qū)電化學(xué)分析測(cè)試 |
| 81 | 瞬態(tài)吸收光譜儀 | LP920 | 測(cè)量激發(fā)態(tài)物質(zhì)的光譜動(dòng)力學(xué)，主要應(yīng)用于超短高強(qiáng)光脈沖激發(fā)而產(chǎn)生的瞬態(tài)化學(xué)過(guò)程 |
| 82 | 瞬態(tài)光電流/壓測(cè)試系統(tǒng) | LKS80 | 測(cè)試激發(fā)態(tài)的壽命及衰減動(dòng)力學(xué) |
| 83 | 差示掃描量熱儀 | DSC-Q2000 | 差示掃描量熱分析 |
| 84 | IPCE/QE測(cè)試儀 | Newport QE Kit | 入射單光子-電子轉(zhuǎn)化效率測(cè)試,IPCE |
| 85 | 表面光電壓譜儀 | WAD-SPV550 | 表面光電壓 |
| 86 | 臺(tái)階儀 | XP-2 | 薄膜厚度測(cè)試 |
| 87 | 電化學(xué)綜合測(cè)試儀 | IM6EX/ZLF-950 | 光電化學(xué)與瞬態(tài)技術(shù) |
| 88 | 比表面積和孔徑測(cè)定系統(tǒng) | BELSORP MINIⅡ | 比表面積測(cè)試及孔徑分布 |
| 89 | 柔性關(guān)節(jié)測(cè)量臂 | FARO EDGE 2.7米 | 形位公差的測(cè)量,測(cè)量物體的外形,長(zhǎng)度測(cè)量 |
| 90 | 強(qiáng)磁場(chǎng)下超快磁光kerr系統(tǒng) | 飛秒超快激光器和超導(dǎo)磁體（0-7 T） | 樣品磁結(jié)構(gòu)分析,顯微光譜 |
| 91 | 多用途物性測(cè)量系統(tǒng)（懸臂梁力矩測(cè)磁學(xué)） | Q120150443 | 樣品磁結(jié)構(gòu)分析 |
| 92 | 三重四級(jí)桿液質(zhì)聯(lián)用儀 | TSQ Quantum Access Max | 農(nóng)殘、殺蟲劑等定量分析,農(nóng)殘 |
| 93 | 晶圓劃片及清洗 | ADT7100 | 劃片 |
| 94 | 晶圓鍵合機(jī) | SB6e | 鍵合 |
| 95 | 引線鍵合機(jī) | 747677E | 鍵合 |
| 96 | 微納米薄膜表面形貌測(cè)量?jī)x | KLA P-17 | 表面形貌測(cè)試 |
| 97 | 探針式臺(tái)階儀 | Bruker-DektakXT | 薄膜厚度測(cè)量 |
| 98 | 反射式光譜膜厚儀 | SRM300 | 膜厚測(cè)量及多層膜分析 |
| 99 | 橢偏儀 | RTES GES5E | 膜厚、光學(xué)常數(shù)及材料微結(jié)構(gòu)測(cè)試 |
| 100 | 原子力顯微鏡 | Dimension Icon | 材料顯微結(jié)構(gòu)近原子尺度的高分辨表征 |
| 101 | 散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 | NeaSpec s-SNOM | 納米尺度近場(chǎng)光學(xué)表征 |
| 102 | 等離子體去膠機(jī) | PlasmaStar200 | 刻蝕薄膜 |
| 103 | 蒸發(fā)HF刻蝕系統(tǒng) | UETCH-SYS | 犧牲層釋放 |
| 104 | 反應(yīng)離子金屬刻蝕系統(tǒng) | SYSTEM100 ICP180 | 刻蝕薄膜 |
| 105 | ICP刻蝕機(jī) | SYSTEM100 ICP380 | 硅深刻蝕系統(tǒng) |
| 106 | 反應(yīng)離子刻蝕機(jī) | NGP80 RIE | 硅深刻蝕系統(tǒng) |
| 107 | 快速熱處理系統(tǒng) | JetFirst200 | 熱處理 |
| 108 | 化學(xué)氣相沉積系統(tǒng) | PECVD100 | 沉積薄膜 |
| 109 | 亞微米紫外曝光機(jī) | MA/BA6 | 刻蝕薄膜 |
| 110 | 聚焦離子/電子雙束系統(tǒng) | Helios650 | 聚焦離子束/電子束加工 |
| 111 | 多功能轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 | smartlab | 物相分析 |
| 112 | 爆炸物量子分析探測(cè)儀-2014 | Quantum Sniffer QS-H150 | 爆炸物量子分析探測(cè)儀 |
| 113 | 超快熒光壽命光譜儀 | QM400-TM | 瞬態(tài)熒光壽命測(cè)試 |
| 114 | 光聲光譜儀(PAX-532) | PAX-532 | 氣溶膠光學(xué)特性分析 |
| 115 | 太陽(yáng)模擬器 | 94023A | 太陽(yáng)模擬器測(cè)試 |
| 116 | 高溫材料定向凝固爐 | ZT-50-16D | 高溫材料定向凝固 |
| 117 | 控制強(qiáng)度調(diào)制光譜儀 | CIMPS2 IM6E | 強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜 |
| 118 | 太陽(yáng)級(jí)硅材料切片分析檢測(cè)系統(tǒng) | WT-1200B | 太陽(yáng)級(jí)硅材料切片分析檢測(cè) |
| 119 | 光聲光譜儀(PAX-870) | PAX-870 | 氣溶膠光學(xué)特性分析 |
| 120 | 傅里葉紅外光譜儀 | iS50R FT-IR | 傅里葉紅外光譜分析 |
| 121 | 穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀 | Fluorolog-3 | 瞬態(tài)熒光壽命測(cè)試,穩(wěn)態(tài)熒光光譜 |
| 122 | 雙波長(zhǎng)微脈沖激光雷達(dá) | MPL-TDP | 雙波長(zhǎng)微脈沖激光雷達(dá) |
| 123 | 偏振微脈沖激光雷達(dá) | MPL-TP30 | 微脈沖激光雷達(dá) |
| 124 | 微脈沖激光雷達(dá) | MPL-T1 | 微脈沖激光雷達(dá) |
| 125 | 激波風(fēng)洞 | KDJB500 | 高速流場(chǎng)實(shí)驗(yàn) |
| 126 | 強(qiáng)流氘氚中子源科學(xué)裝置 | HINEG | 提供高通量中子輻照、測(cè)量環(huán)境 |
| 127 | 高低溫原子對(duì)分布函數(shù)測(cè)試系統(tǒng) | D8 Discover | 固體、單晶,變溫(15K-420K)原子對(duì)分布函數(shù)（徑向分布函數(shù)）測(cè)試 |
| 128 | CICC導(dǎo)體及電纜低溫實(shí)驗(yàn)裝置 | 研制 | 低溫實(shí)驗(yàn)分析 |
| 129 | 血細(xì)胞分析儀 | LH750 | 血細(xì)胞分析儀 |
| 130 | 血凝分析儀 | ACLT0P700 | 血凝分析儀 |
| 131 | 免疫化學(xué)發(fā)光分析儀 | DXI800 | 免疫化學(xué)發(fā)光分析儀 |
| 132 | 全自動(dòng)生化分析儀 | AU5811 | 全自動(dòng)生化分析儀 |
| 133 | 冰凍切片機(jī) | CM1860UV | 冰凍切片機(jī) |
| 134 | 微量熱泳動(dòng)儀 | NT.115 | 分子相互作用 |
| 135 | 高分辨透射電鏡[Talos F200X] | Talos F200X | 材料顯微結(jié)構(gòu)近原子尺度的高分辨表征 |
| 136 | 倒置熒光顯微鏡 | DMI4000B | 熒光顯微鏡, |
| 137 | 熒光微孔板讀數(shù)儀 | VF | 熒光微孔板讀數(shù)儀儀 |
| 138 | 熒光定量PCR | LightCycler480 | 熒光定量PCR |
| 139 | 微量紫外分光光度計(jì) | Nanodrop2000C | 微量紫外分光光度計(jì) |
| 140 | 全自動(dòng)數(shù)碼凝膠/化學(xué)發(fā)光圖像分析系統(tǒng) | Tanon-4500SF | 全自動(dòng)數(shù)碼凝膠圖像分析系統(tǒng) |
| 141 | 流式細(xì)胞儀 | C6 | 流式細(xì)胞儀,流式細(xì)胞儀 |
| 142 | X射線儀 | XSZ-220/20 | X射線機(jī),X射線機(jī) |
| 143 | 薄膜X射線衍射儀 | X‘Pert | XRD高分辨,單晶Phi掃描,單晶φ掃描,薄膜物相分析,單晶搖擺曲線,單晶搖擺,粉末物相分析,薄膜物相 |
| 144 | 鉛合金慢速率拉伸實(shí)驗(yàn)裝置 | YYF-50 | 慢速率試驗(yàn) |
| 145 | Instron電液伺服疲勞試驗(yàn)機(jī) | 8802 | 疲勞試驗(yàn) |
| 146 | 高性能計(jì)算平臺(tái) | x240 | 并行計(jì)算 |
| 147 | 9T 綜合物性測(cè)試系統(tǒng) | 9TM-SVM-20 | 多功能物性測(cè)試 |
| 148 | 微觀結(jié)構(gòu)分析樣品制備系統(tǒng) | Gatan 695.C | 微觀分析樣品制備 |
| 149 | 蠕變實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) | RJ-50 | 材料高溫蠕變持久性能測(cè)試 |
| 150 | 熱等靜壓機(jī) | QIH-15 | 熱等靜壓成型 |
| 151 | 核酸蛋白檢測(cè)儀 | Biophotometer D30 | 核酸蛋白檢測(cè) |
| 152 | 全細(xì)胞計(jì)數(shù)分析儀 | ADAM-MC | 細(xì)胞計(jì)數(shù)分析 |
| 153 | 細(xì)胞活力分析儀 | NC-3000 | 細(xì)胞活力分析 |
| 154 | 低氧細(xì)胞培養(yǎng)箱 | H35 | 細(xì)胞培養(yǎng) |
| 155 | 單電極等離子體裝置 | JY-DDJDLZTZZ | 低溫等離子體滅菌 |
| 156 | 雙電極等離子體裝置 | JY-SDJDLZTZZ | 低溫等離子體滅菌 |
| 157 | 高壓射頻電源 | 12.5KW | 功能梯度材料噴涂 |
| 158 | 等離子體滅菌柜 | CASP-120 | 低溫等離子體滅菌 |
| 159 | X射線輻照儀 | X-RAD 320 | 輻射損傷誘導(dǎo) |
| 160 | γ射線輻照儀 | BIOBEAM GM2000 | γ輻射損傷誘導(dǎo) |
| 161 | 差示掃描量熱儀-2014 | DSC204F1 | 差示量熱掃描儀2014 |
| 162 | 大氣壓化學(xué)電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀-2014 | MicrOTOF-Q Ⅲ | 有機(jī)物檢測(cè),飛行時(shí)間質(zhì)譜儀 |
| 163 | 雙色紅外激光成像系統(tǒng) | Odyssey Clx | 雙色紅外激光成像系統(tǒng) |
| 164 | 原子力顯微鏡 | CSPM 5500 | 儀器維護(hù) |
| 165 | 變頻調(diào)速四軸拋光機(jī)2 | GP30-4S | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 166 | 變頻調(diào)速四軸拋光機(jī)1 | GP30-4S | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 167 | 偏光顯微鏡 | ABR-M2-XD | 物相分析 |
| 168 | 生物能量測(cè)定儀 | XFe 24 | 生物能量測(cè)定儀 |
| 169 | 醫(yī)用電子直線加速器 | Elekta Axesse | 放射治療 |
| 170 | 大孔徑CT模擬定位機(jī) | Philips Brilliance CT BigBore | CT模擬定位 |
| 171 | 磁共振（MR）成像設(shè)備 | Achieva 3.0T | 3.0T多源核磁共振 |
| 172 | 數(shù)字化乳腺X射線機(jī) | Mammo Diagnost DR | 數(shù)字化乳腺X射線機(jī)（DR） |
| 173 | 血管造影X射線系統(tǒng) | Allura Xper FD20 | 血管造影X射線系統(tǒng)（DSA） |
| 174 | X射線計(jì)算機(jī)斷層攝影設(shè)備 | Brilliance iCT | 醫(yī)用CT成像 |
| 175 | SU8020場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | SU8020 | SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征，掃描電鏡能譜分析,掃描電鏡能譜分析 |
| 176 | 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS） | icap Qc | 定量半定量分析 |
| 177 | 液質(zhì)聯(lián)用儀 | 6224 TOF | 小分子化合物質(zhì)量檢測(cè)/樣品純度分析化學(xué)反應(yīng)監(jiān)測(cè) |
| 178 | 高功率半導(dǎo)體激光器-2 | DPSS-966-6K-2 | 脈沖式半導(dǎo)體激光側(cè)面泵浦模塊,光束質(zhì)量分析 |
| 179 | 透射電子顯微鏡 | FEI Tecnai G2 F20 | 晶體結(jié)構(gòu)觀察 |
| 180 | 高分辨光譜儀 | FHR1000 | 特性參數(shù)診斷,特性參數(shù)診斷,特性參數(shù)診斷 |
| 181 | 質(zhì)譜儀 | HPR-60 | 成分探測(cè),成分探測(cè),成分探測(cè) |
| 182 | 紅外熱像儀 | VH-620 | 紅外成像及非接觸式溫度測(cè)量 |
| 183 | 光斑分析儀 | WinCamD-FIR2-16-HR | 光束質(zhì)量分析 |
| 184 | 端面泵浦中紅外激光器 | OPO-0305U-20 | 中紅外波段的種子激光光源 |
| 185 | 高功率半導(dǎo)體激光器-1 | DPSS-966-6k-1 | 脈沖式半導(dǎo)體激光側(cè)面泵浦模塊 |
| 186 | 鉺激光醫(yī)療儀 | HT Fidelis M 002-3A/3 | 醫(yī)療用激光系統(tǒng)（2.94um） |
| 187 | 準(zhǔn)分子激光醫(yī)療儀 | Xtrac AL8000 | 醫(yī)用激光系統(tǒng)（308nm) |
| 188 | 高性能聚焦離子束雙束系統(tǒng) | AURIGA | TEM截面薄樣品制備,材料形貌和尺度分析,掃描電鏡能譜分析 |
| 189 | 高通量藥物篩選和測(cè)試技術(shù)平臺(tái) | JANUS@ automated workstation(12KH-489KH) | 高通量藥物篩選 |
| 190 | 強(qiáng)磁場(chǎng)下脈沖激光沉積系統(tǒng) | HM-PLD-1 | 強(qiáng)磁場(chǎng)下脈沖激光制備功能性氧化物薄膜 |
| 191 | 單軸研磨拋光機(jī) | YG500 | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 192 | 雙軸研磨拋光機(jī)-4 | YM015.2A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 193 | 雙軸研磨拋光機(jī)-3 | YM015.2A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 194 | 雙軸研磨拋光機(jī)-2 | YM015.2A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 195 | 雙軸研磨拋光機(jī)-1 | YM015.2A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 196 | 四軸研磨拋光機(jī)-4 | YM012.4A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 197 | 四軸研磨拋光機(jī)-3 | YM012.4A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 198 | 四軸研磨拋光機(jī)-2 | YM012.4A | 高精度光學(xué)鏡片的加工,高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 199 | 四軸研磨拋光機(jī)-1 | YM012.4A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 200 | 六軸研磨拋光機(jī) | YM080.6 | 高精度光學(xué)鏡片的加工,高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 201 | 圓臺(tái)平面銑磨機(jī) | ZGX70A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 202 | 光學(xué)環(huán)型拋光機(jī) | ZNZD-HP200 | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 203 | 單軸翻轉(zhuǎn)研磨拋光機(jī) | JPF120.1A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 204 | 光學(xué)定心磨邊機(jī) | MGBA1420A | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 205 | 單軸研磨拋光機(jī) | YG300 | 高精度光學(xué)鏡片的加工 |
| 206 | 大氣壓力接口團(tuán)簇及氣溶膠飛行時(shí)間質(zhì)譜儀 | PTR-TOF 2000 | 氣態(tài)樣品的成分分析和濃度測(cè)定 |
| 207 | 高真空退火爐 | 非標(biāo) | 金屬工件退火處理 |
| 208 | 示波沖擊韌性試驗(yàn)機(jī) | CEAST 9350 | 沖擊試驗(yàn) |
| 209 | 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | ∑IGMA | 樣品的納米尺度的形貌分析和微區(qū)成分分析 |
| 210 | Instron萬(wàn)能實(shí)驗(yàn)拉伸機(jī) | 3369 | 力學(xué)性能檢測(cè) |
| 211 | 電子式蠕變持久試驗(yàn)機(jī) | GWT2504/ CMT504-B1 | 材料高溫蠕變持久性能測(cè)試 |
| 212 | 面陣/線陣視覺檢測(cè)儀 | 定制 | 面陣/線陣視覺檢測(cè) |
| 213 | 雙目視覺儀 | 定制 | 雙目視覺檢測(cè) |
| 214 | 精密數(shù)控慢走絲線切割機(jī)床 | CUT200P | 精密數(shù)控慢走絲線切割 |
| 215 | 激光誘導(dǎo)擊穿光譜金屬檢測(cè)分析系統(tǒng) | AGHJ-JGJ01 | 熒光光譜探測(cè) |
| 216 | 測(cè)藻儀 | II代 | 熒光光譜探測(cè) |
| 217 | 水樣熒光光譜儀 | Water-PAM | 熒光光譜探測(cè) |
| 218 | 熱重-紅外光譜-氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀 | TL-9000 | 逸出氣體分析-各種材料,結(jié)構(gòu)信息和準(zhǔn)分子離子峰? ,有機(jī)物中C、H、O的定量分析,逸出氣體分析-聚合物,逸出氣體分析,元素定性、定量分析,粉未定量分析,熱重分析儀一般分析,熱穩(wěn)定性,粉未定性分析,熱重-差熱分析,材料成份及元素的價(jià)態(tài)分析,催化研究,熱穩(wěn)定性,熱分解過(guò)程,材料成份和元素化學(xué)態(tài)分析 |
| 219 | 核應(yīng)急模擬及指揮平臺(tái) | DVS-60-5028 | 呼吸運(yùn)功分析,應(yīng)急指揮 |
| 220 | 三通道被動(dòng)立體仿真顯示系統(tǒng) | DP-E-Vision6500XGA | X線成像分析,應(yīng)急指揮,立體仿真演示 |
| 221 | 醫(yī)用電子直線加速器 | XHA600D | 高能光子輻照細(xì)胞實(shí)驗(yàn) |
| 222 | 600M寬腔固體核磁共振譜儀 | AVWBIII600 | 二維固體譜,固體一維1H譜,微成像,固體一維雜核譜 |
| 223 | 位置跟蹤系統(tǒng) | ARTTrack | 治療計(jì)劃驗(yàn)證,立體仿真演示 |
| 224 | Leica AT401絕對(duì)跟蹤儀 | AT401 | 高精度的空間幾何量測(cè)量與評(píng)價(jià)系統(tǒng) |
| 225 | 激光大氣傳輸實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) | COIL | 激光大氣傳輸,云底高度和能見度的探測(cè) |
| 226 | 真空感應(yīng)熔煉爐 | ZGL-0.2 | 合金材料熔煉制備 |
| 227 | 電子束燒結(jié)設(shè)備 | EBSM250 | 粉末分層燒結(jié)成形 |
| 228 | 納米壓痕儀 | Nanoindenter G200 | 測(cè)試材料的硬度、楊氏模量、屈服強(qiáng)度、摩擦系數(shù)、涂層與襯底結(jié)合力、粗超度,測(cè)試材料的硬度、楊氏模量、屈服強(qiáng)度、摩擦系數(shù)、涂層與襯底結(jié)合力、粗超度 |
| 229 | 多功能電子萬(wàn)能材料力學(xué)性能實(shí)驗(yàn)機(jī)（拉伸機(jī)） | Instron 9657 | 室溫拉伸,高溫拉伸,低溫拉伸,高溫壓縮,低溫彎曲,高溫彎曲,低溫壓縮,室溫彎曲 |
| 230 | 熱等靜壓爐 | HIP630 | 熱等靜壓 |
| 231 | 落錘沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī) | CEAST9350 | 沖擊韌性,低溫壓縮,室溫壓縮,韌脆轉(zhuǎn)變溫度,高溫彎曲,低溫拉伸 |
| 232 | 極弱熒光檢測(cè)系統(tǒng) | SR500i | 熒光光譜探測(cè) |
| 233 | 時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)系統(tǒng) | LifeSpec-Ⅱ-ps | 時(shí)間分辨信號(hào)檢測(cè) |
| 234 | 液相色譜-飛行時(shí)間質(zhì)譜聯(lián)用儀 | UItiMate R 3000 MicrOTOF II | 有機(jī)物定性定量分析 |
| 235 | 三重四極串聯(lián)氣質(zhì)聯(lián)用儀 | TSQGC2010 TSQ Quantum XLS | 有機(jī)化合物的定量分析,有機(jī)物定性定量分析,三重四極串聯(lián)氣質(zhì)聯(lián)用儀 |
| 236 | 激光共聚焦顯微鏡 | LSM 710 | 活細(xì)胞動(dòng)態(tài)觀察 |
| 237 | 全功能紫外-可見-近紅外熒光光譜儀 | fluorolog-3 | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 238 | 液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀 | 1290/6540 | 質(zhì)譜檢測(cè) |
| 239 | 基質(zhì)輔助激光解吸飛行時(shí)間質(zhì)譜儀 | Atouflex Speed | 有機(jī)化合物（含高分子量物質(zhì)）結(jié)構(gòu)定性定量分析, |
| 240 | Helios Nanlab 600i | Helios Nanlab 600i | 微納加工,材料形貌與成分分析 |
| 241 | 光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x | ImageMasterRUniversal | 材料光學(xué)散射測(cè)量,光學(xué)鏡頭MTF函數(shù) |
| 242 | 單晶爐5 | T型 | 高溫拉伸 |
| 243 | 菲索激光干涉儀 | Fizcam2000System | 平面鏡面形及均勻性測(cè)量 |
| 244 | 泰曼-格林激光干涉儀 | Phasecam4020system | 材料光學(xué)散射測(cè)量,凹面反射鏡面形 |
| 245 | 多晶合成爐3 | AG-2 | 高溫拉伸 |
| 246 | 多晶合成爐6 | AG-2 | 高溫拉伸 |
| 247 | 單晶爐4 | T型 | 高溫實(shí)驗(yàn)分析 |
| 248 | TEA CO2激光器 | MTL-3 | 紅外光譜分析 |
| 249 | 激光共焦拉曼光譜儀 | LabRAM HR800 | 材料的微結(jié)構(gòu)分析 |
| 250 | 電穿孔儀 | ECM830 | 細(xì)胞電穿孔基因轉(zhuǎn)導(dǎo) |
| 251 | 化學(xué)發(fā)光成像儀 | FLUOR-CHEM E | 蛋白質(zhì)定量分析 |
| 252 | 熒光定量PCR儀 | STEPONE | 定量PCR |
| 253 | BD流式細(xì)胞分選儀 | ARIAIII | 分選流式,分選流式 |
| 254 | 激光熱導(dǎo)儀 | NETZSCH LFA457 | 熱擴(kuò)散率測(cè)量 |
| 255 | 組合型傅立葉變換靜電場(chǎng)軌道阱高分辨質(zhì)譜儀 | LTQ-Orbitrap XL | 有機(jī)化合物（含高分子量物質(zhì)）結(jié)構(gòu)定性定量分析, |
| 256 | 高效液相色譜儀 | 安捷倫1260 | 有機(jī)化合物定量分析 |
| 257 | 液體閃爍計(jì)數(shù)器 | Packard3100TR/AB | 放射性核素測(cè)量,無(wú)機(jī)定量分析 |
| 258 | 原子吸收光譜 | AA6300C | 無(wú)機(jī)定量分析 |
| 259 | 顯微共聚焦拉曼光譜儀 | Renishaw inVia Reflex | mapping, 拉曼光譜分析 |
| 260 | 紫外可見紅外分光光度計(jì) | UV3600-MPC3100 | 光吸收漫反射測(cè)試 |
| 261 | 傅立葉變換近紅外光譜儀 | BURUKER MPA | 傅立葉變換紅外光譜分析 |
| 262 | 超速離心機(jī)L-100XP | 制備型超速離心機(jī) | 離心 |
| 263 | 超速離心機(jī)100K | Optima XL-100K | 蛋白質(zhì)純化 |
| 264 | ZEISS高級(jí)正置顯微鏡 | Carl ZEISS AXIOSCOP2 | 材料形貌和尺度分析 |
| 265 | 激光熱導(dǎo)測(cè)試儀（LFA457） | LFA457 | 熱擴(kuò)散率測(cè)量,導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量 |
| 266 | 熒光分光光度計(jì) | Fluorolog-3-21，Tempro-01 | 熒光光譜探測(cè) |
| 267 | 三重四極桿氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 | TSQ Quantum XLS | 農(nóng)殘、殺蟲劑等定量分析,GCMS有機(jī)物測(cè)試方法開發(fā),農(nóng)殘、殺蟲劑等半定性分析 |
| 268 | 高效液相色譜儀 | Agilent1200 | 有機(jī)化合物的定量分析 |
| 269 | 等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積系統(tǒng) | PECVD-400a | 濺射導(dǎo)電薄膜 |
| 270 | 激光治療儀 | DHL-1-13 | 醫(yī)用激光系統(tǒng)（308nm),高溫拉伸 |
| 271 | 激光切割機(jī) | TQL-LCY 500 | 激光切割 |
| 272 | 超高效液相色譜儀UPLC | Acquity UPLC H-Class | 蛋白質(zhì)純化 |
| 273 | 激光共聚焦LSM880+Airyscan | LSM880 with Airyscan | 活細(xì)胞動(dòng)態(tài)觀察 |
| 274 | Q Exactive Plus 液質(zhì)聯(lián)用儀 | Q Exactive Plus | 高壓滅菌,質(zhì)譜檢測(cè),蛋白質(zhì)測(cè)序 |
| 275 | 倒置熒光顯微鏡IX81 | OLYMPUS IX81 | 活細(xì)胞動(dòng)態(tài)觀察,材料顯微多功能分析 |
| 276 | X射線晶體衍射數(shù)據(jù)收集系統(tǒng) | RA-Micro | 蛋白晶體結(jié)構(gòu),蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)分析 |
| 277 | 分子影像儀LAS4000 | LAS4000 | 分子相互作用 |
| 278 | 氦純化裝置 | 200Nm3/2.0MPa | 氦氣純化,純化氦氣 |
| 279 | 熱等離子體處置固體危險(xiǎn)廢物實(shí)驗(yàn)裝置 | 研制 | 熔融、結(jié)晶、玻璃化轉(zhuǎn)變,熱分解過(guò)程 |
| 280 | 寬腔固體超導(dǎo)核磁共振波譜儀AV III 400WB | Bruker AVANCE AV III 400WB | 固體一維碳譜,固體一維雜核譜,固體一維氫譜,弛豫時(shí)間T1,T2 |
| 281 | 離子束生物工程裝置 | IBBe-Device | 離子注入生物效應(yīng),離子注入材料處理,離子注入生物材料改性 |
| 282 | 單粒子微束細(xì)胞定位輻射裝置 | CAS-LIBB | 離子注入生物效應(yīng),單粒子微束細(xì)胞定位照射 |
| 283 | Instron電子動(dòng)靜態(tài)疲勞試驗(yàn)機(jī) | E3000K8953 | 高溫壓縮,低溫彎曲,高溫彎曲,室溫疲勞試驗(yàn),低溫疲勞試驗(yàn),高溫疲勞試驗(yàn),松弛,蠕變,高溫拉伸,室溫拉伸,室溫壓縮,室溫彎曲,低溫壓縮,低溫拉伸 |
| 284 | 全自動(dòng)比表面積和孔隙分析儀 | Tristar II 3020M | 比表面積,介孔孔徑分布、微孔孔徑分布,比表面及孔隙率分析,比表面積 |
| 285 | 熱電性能測(cè)試儀 | ZEM-3 | 熱電勢(shì),電導(dǎo)率 |
| 286 | 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀 | DMA Q800 | 高溫疲勞試驗(yàn)，拉壓在位觀測(cè)，分子相互作用,熱塑性高分子復(fù)合材料制備,橡膠硫化性能,耐磨耗性能,耐熱空氣老化性能,熔融、結(jié)晶、玻璃化轉(zhuǎn)變,熔融 |
| 287 | 熱機(jī)械分析儀 | TMA Q400 | 室溫拉伸,高溫彎曲,室溫扭轉(zhuǎn),熱塑性高分子復(fù)合材料制備,塑料拉伸性能試驗(yàn)方法,塑料彎曲性能試驗(yàn)方法,熔融、結(jié)晶、玻璃化轉(zhuǎn)變,熔融、固相相轉(zhuǎn)變,材料的微結(jié)構(gòu)分析,熱膨脹系數(shù)測(cè)定,熔融 |
| 288 | 差示掃描量熱儀 | DSC Q2000 | 物相分析,固相相轉(zhuǎn)變 |
| 289 | 熱重-差熱分析儀 | SDT Q600 | 熔融、結(jié)晶及固相相變過(guò)程,熔融、結(jié)晶及固相相變過(guò)程,熱重分析儀一般分析 |
| 290 | 熱重分析儀 | TGA Q5000IR | 熱穩(wěn)定性研究，熱分解過(guò)程，熱穩(wěn)定性,化合物定性定量分析，化合物定性定量分析,有機(jī)化合物定量分析,無(wú)機(jī)定量分析,熱重分析儀一般分析,化合物定性定量分析 |
| 291 | 染料敏化太陽(yáng)電池制備系統(tǒng) | 研制 | 染料敏化太陽(yáng)電池制備與光電測(cè)試，薄膜厚度測(cè)量,測(cè)試材料光學(xué)的性能,薄膜厚度測(cè)量,染料敏化太陽(yáng)電池制備 |
| 292 | 開放光路傅里葉變換紅外光譜議 | IRcubeMG | 空氣質(zhì)量檢測(cè) |
| 293 | 抽取式傅里葉變換紅外光譜儀 | Tensor27 | 空氣質(zhì)量檢測(cè) |
| 294 | 車載污染物排放通量遙測(cè)系統(tǒng) | IRcubeMG | 氣體排放通量檢測(cè) |
| 295 | 傅里葉變換紅外光譜輻射計(jì) | Mr154 | 目標(biāo)紅外輻射特性,連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 296 | 高溫液態(tài)金屬（鉛鉍）實(shí)驗(yàn)裝置 | 研制 | 高溫實(shí)驗(yàn)分析,高溫靜態(tài)與流動(dòng)腐蝕 |
| 297 | 長(zhǎng)程差分吸收光譜系統(tǒng) | 研制 | 空氣質(zhì)量檢測(cè),連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量,氣體排放通量檢測(cè),連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量,揮發(fā)性有機(jī)物的實(shí)時(shí)在線測(cè)量,氣體排放通量檢測(cè) |
| 298 | 車載被動(dòng)差分吸收光譜系統(tǒng) | 研制 | 空氣質(zhì)量檢測(cè),不同高度層大氣參數(shù)測(cè)量,連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量,氣體排放通量檢測(cè) |
| 299 | 寬范圍粒徑譜儀 | 100-XPA | 氣溶膠粒徑及數(shù)濃度分布 |
| 300 | 材料表面雙向反射分布函數(shù)測(cè)量系統(tǒng) | 研制 | 材料光學(xué)BRDF測(cè)量 |
| 301 | 公里級(jí)懷特長(zhǎng)程吸收池 | 研制 | 紅外光譜測(cè)量 |
| 302 | 2-5μm中紅外可調(diào)諧差頻激光器 | 研制 | 紅外光譜測(cè)量 |
| 303 | 自動(dòng)掃描環(huán)形鈦寶石激光器 | CR899-29 | 紅外光譜測(cè)量 |
| 304 | 研究級(jí)倒置萬(wàn)能材料顯微鏡 | Axio Observer A1m | 材料顯微多功能分析,材料顯微多功能分析,材料微觀組織觀察 |
| 305 | 多軸差分吸收光譜系統(tǒng) | 研制 | 不同高度層大氣參數(shù)測(cè)量,連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量,氣體排放通量檢測(cè),空氣質(zhì)量檢測(cè) |
| 306 | 雙向觀測(cè)等離子發(fā)射光譜儀（ICP） | icp6300 | 陰離子定性定量分析,重金屬離子定量檢測(cè) |
| 307 | BD分選流式細(xì)胞儀 | Facsaria | 分選流式,分選流式 |
| 308 | 透射電鏡塊體制樣設(shè)備 | 691 601 | TEM平面薄樣品制備,TEM截面薄樣品制備,TEM制樣：超聲波切割,TEM制樣：離子減薄儀, 慢速金剛石切割機(jī) |
| 309 | DI Innova掃描探針顯微鏡 | Innova | 材料形貌和尺度分析,微觀尺度 |
| 310 | DI MultiMode V 掃描探針顯微鏡 | MultiMode V | 微觀尺度,材料形貌和尺度分析 |
| 311 | 超導(dǎo)核磁AV III 400 液態(tài) | Bruker AVANCE AV III 400 | 核磁共振氫譜，核磁共振二維相關(guān)實(shí)驗(yàn),有機(jī)化合物（含高分子量物質(zhì)）結(jié)構(gòu)定性定量分析 |
| 312 | 樣品水平型大功率X射線粉末衍射儀 | TTR-III | XRF法測(cè)定有機(jī)無(wú)機(jī)物中多元素,物相分析 |
| 313 | 晝夜全天空成像儀系統(tǒng) | 定制 | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 314 | 哈特曼波前傳感器 | HS-D120+ | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 315 | 中紅外傅里葉變換光譜儀 | MR-170 | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 316 | 35米鐵塔大氣參數(shù)測(cè)量系統(tǒng) | 非標(biāo) | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 317 | 快速掃描光譜輻射計(jì) | FieldSpec Pro FR | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 318 | 磁性測(cè)量系統(tǒng) | MPMS XL5 | 磁性測(cè)量 |
| 319 | 物理性質(zhì)測(cè)量系統(tǒng) | PPMS-9 | 多物性測(cè)試 |
| 320 | 質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)質(zhì)譜檢測(cè)系統(tǒng) | 研制 | PTR-MS測(cè)VOC,質(zhì)譜檢測(cè),連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 321 | TEM樣品制備及清洗設(shè)備 | GATAN Model 950/601/659/623/656/691/623/ | TEM截面薄樣品制備 |
| 322 | 系留探空系統(tǒng) | TT12 | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量,不同高度層大氣參數(shù)測(cè)量 |
| 323 | 風(fēng)廓線微波雷達(dá) | Airda16000 | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量,三維空間中的風(fēng)場(chǎng) |
| 324 | 高分辨雙面曝光機(jī) | ABM/6/350/NUV/DCCD/BSIR/M | 刻蝕薄膜 |
| 325 | 熱物性分析儀 | Hot Disk 2500s | 熱擴(kuò)散率測(cè)量，體積比熱測(cè)量，導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量 |
| 326 | 磁控濺射臺(tái) | SP-2 | 濺射薄膜 |
| 327 | MTS810材料試驗(yàn)系統(tǒng) | MTS810 | 室溫疲勞試驗(yàn),室溫疲勞試驗(yàn)，高溫彎曲，低溫疲勞試驗(yàn)，高溫疲勞試驗(yàn) |
| 328 | MTS809拉扭復(fù)合材料試驗(yàn)系統(tǒng) | MTS809 | 室溫拉伸，室溫壓縮，室溫彎曲，室溫扭轉(zhuǎn)，室溫疲勞試驗(yàn), 高溫疲勞試驗(yàn) |
| 329 | 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM | EVO18 | 微觀尺度 |
| 330 | 等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積系統(tǒng) | PD-220 | 沉積薄膜 |
| 331 | 高速攝像系統(tǒng) | Phtron fastcam SA5 | 薄膜成份及膜厚測(cè)定－XRF分析,低溫拉伸,微觀尺度, |
| 332 | 粒子成像速度場(chǎng)儀（PIV） | Flowmap 1500????? 80M37 | 流場(chǎng)速度測(cè)量 |
| 333 | 低速風(fēng)洞 | 研制 | 流場(chǎng)分析 |
| 334 | 碳黑度儀 | AE 31-AW-ER-MC | 連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 335 | 感應(yīng)耦合等離子體硅深刻蝕系統(tǒng) | ICP180 | 硅深刻蝕系統(tǒng) |
| 336 | 四圓單晶X射線衍射儀 | Gemini S Ultra | 溶液結(jié)構(gòu)測(cè)定與分析 |
| 337 | 傅立葉變換紅外光譜儀（FT-IR） | Nicolet 8700 | 固相相轉(zhuǎn)變，熱穩(wěn)定性，測(cè)試材料光學(xué)的性能，元素定性、定量分析、催化研究,紅外光譜測(cè)量,紅外光譜測(cè)量，化合物定性定量分析 |
| 338 | 離子色譜儀 | Dionex ICS-3000 | 陰離子定性定量分析,陰離子定性定量分析,陰離子定性定量分析 |
| 339 | 透射電子顯微鏡（TEM） | JEM-2011 | 透射電鏡高分辨分析,透射電鏡一般分析,元素成分線、面分布能譜分析,透射電鏡能譜分析 |
| 340 | 電子順磁共振波譜儀 | JES-FA200 | 含有單電子材料的EPR波譜分析, 有機(jī)自由基、生物樣品EPR波譜分析, 溶液結(jié)構(gòu)測(cè)定與分析 |
| 341 | 原子吸收分光光度計(jì) | AA800 | 無(wú)機(jī)定量分析 |
| 342 | 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 | PlasmaQuad 3 | 無(wú)機(jī)定量分析 |
| 343 | 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀 | Optima 7300 DV | 無(wú)機(jī)定量分析 |
| 344 | 原子熒光光度計(jì) | AFS-230Q | 無(wú)機(jī)定量分析 |
| 345 | 紫外-可見-近紅外分光光度計(jì) | SOLID3700 | 無(wú)機(jī)定量分析 |
| 346 | 順序型X射線熒光譜儀－XRF | XRF-1800 | 薄膜成份及膜厚測(cè)定－XRF分析,材料中多元素同時(shí)定性定量及定量分析－XRF法,無(wú)機(jī)定量分析,有機(jī)物中C、H、O的定量分析,環(huán)境地球化學(xué)樣品定量全分析,元素面掃描成像分析－XRF法,定位分析特定元素－XRF法,金屬及合金材料材質(zhì)分析,元素定性、陰離子定性定量分析 |
| 347 | 激光拉曼光譜儀系統(tǒng)-1 | LabRamHR | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量? ,化合物結(jié)構(gòu)鑒定,材料的微結(jié)構(gòu)分析,熒光光譜探測(cè) |
| 348 | 全自動(dòng)微孔物理化學(xué)吸附儀 | ASAP2020M+C | 物相分析,介孔孔徑分布、微孔孔徑分布 |
| 349 | 微量差示掃描量熱儀 | VP-DSC | 差示掃描量熱儀一般分析等溫及變溫微量量熱分析,化合物結(jié)構(gòu)鑒定，熱穩(wěn)定性研究,熱變性, 聚合物次級(jí)轉(zhuǎn)變、主轉(zhuǎn)變,蛋白質(zhì)復(fù)性研究 |
| 350 | 元素分析儀 | VarioELIII | 有機(jī)化合物定量分析 |
| 351 | 高效液相色譜儀（HPLC） | LC-20AD | 有機(jī)化合物定量分析, |
| 352 | 穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀 | JY Fluorolog-3-Tou | 材料的發(fā)光性能 |
| 353 | X射線光電子能譜儀 | ESCALAB 250 | 材料成份和元素化學(xué)態(tài)分析,深度剖析,元素定性、定量分析,表面和界面分析 |
| 354 | 超導(dǎo)核磁AV 400 | Bruker AVANCE AV400 | 核磁共振二維相關(guān)實(shí)驗(yàn),核磁共振多核,核磁共振氫譜 |
| 355 | 數(shù)字化測(cè)繪系統(tǒng) | DNA03 | 精確的高程測(cè)量 |
| 356 | 高精度全自動(dòng)全站儀 | TCA2003 | 精確的角度和距離測(cè)量、全自動(dòng)變形監(jiān)測(cè) |
| 357 | 微型CT | SkyScan 1076 | 低倍立體成像觀測(cè)和分析 |
| 358 | 四探針納米操作臺(tái) | KZ 100 | 材料的微結(jié)構(gòu)分析 |
| 359 | 環(huán)境掃描電子顯微鏡 | QUANTA 200FEG | SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征 |
| 360 | 紫外-可見-近紅外分光光度計(jì) | LAMBDA900UV/VIS/NIRSPECTROMETER | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量,，測(cè)試材料光學(xué)的性能 |
| 361 | 高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM） | JEM-2010 | 透射電鏡一般分析, 透射電鏡高分辨分析, 透射電鏡能譜分析 |
| 362 | 炸藥毒品檢測(cè)分析儀 | IONSCAN 400B | 離子遷移譜檢測(cè),痕量毒品檢測(cè)儀 |
| 363 | 熒光成像監(jiān)測(cè)儀 | M153 | 熒光光譜探測(cè) |
| 364 | 激光器云高儀 | CL31 | 云底高度和能見度的探測(cè) |
| 365 | 機(jī)器人及機(jī)器人傳感器分析測(cè)試系統(tǒng) | 研制 | 機(jī)器人及機(jī)器人傳感器分析測(cè)試系統(tǒng) |
| 366 | 紫外-可見-近紅外分光光譜儀 | Cary-5E | 紫外可見近紅外光譜測(cè)量 |
| 367 | 比表面和孔隙率分析儀（BET） | Ommishop 100CX | 比表面分析,介孔及微孔材料孔徑分布,化學(xué)吸附,比表面及孔隙率分析 |
| 368 | 極低溫變溫系統(tǒng) | 2226 | 超導(dǎo)線材性能和生物樣品性能分析 |
| 369 | 智能型傅立葉紅外-拉曼光譜儀 | NEXUS | 紅外光譜分析(KBr壓片),紅外光譜分析(ATR附件),變溫紅外光譜分析,紅外光譜分析(KBr壓片) |
| 370 | 脈沖激光沉積設(shè)備 | PLD-301 | 脈沖激光制備功能性氧化物薄膜,脈沖激光制備功能性氧化物薄膜 |
| 371 | 粉末X射線衍射儀 | X’Pert | 薄膜物相分析,粉未物相分析,高溫實(shí)驗(yàn)分析,單晶Phi掃描,單晶搖擺曲線,薄膜厚度測(cè)量,低溫實(shí)驗(yàn)分析,低溫實(shí)驗(yàn)分析,XRD高分辨 |
| 372 | 熱重分析儀（TGA） | Pyris 1 | 熱重分析儀一般分析 |
| 373 | 差示掃描量熱儀（DSC） | Pyris Diamond | 差示掃描量熱儀一般分析 |
| 374 | 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | Sirion 200 | 元素成分線、面分布能譜分析,元素成分線、面分布能譜分析,掃描電鏡能譜分析,SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征,儀器保養(yǎng),公司儀器維護(hù) |
| 375 | 超導(dǎo)核磁共振波譜儀AV 600 | AV600 | 熱穩(wěn)定性研究，蛋白質(zhì)復(fù)性研究,分子相互作用,高通量篩選,分子相互作用,手性測(cè)定,手性測(cè)定,手性測(cè)定,核磁共振氫譜,核磁共振碳譜,核磁共振多核,核磁共振二維相關(guān)實(shí)驗(yàn),化合物結(jié)構(gòu)鑒定,微觀粒徑測(cè)定,蛋白質(zhì)復(fù)性研究 |
| 376 | 超導(dǎo)核磁共振波譜儀AV 500 | AV500 | 熱穩(wěn)定性研究，蛋白質(zhì)復(fù)性研究,分子相互作用,高通量篩選,化合物定性定量分析,化合物定性定量分析,分子相互作用,核磁共振氫譜,核磁共振碳譜,核磁共振多核,核磁共振二維相關(guān)實(shí)驗(yàn),化合物結(jié)構(gòu)鑒定,化合物定性定量分析,擴(kuò)散動(dòng)力學(xué),分子-分子間相互作用,馳豫動(dòng)力學(xué),代謝組學(xué) |
| 377 | X射線衍射儀（XRD） | X’Pert | 物相分析,定性物相分析 |
| 378 | 熱膨脹儀 | DIL-402C | 熱膨脹系數(shù)測(cè)定,固相相轉(zhuǎn)變熱穩(wěn)定性,定性物相分析,IC設(shè)計(jì),平均線膨脹系數(shù) |
| 379 | 肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | SIRION200 | 掃描電鏡能譜分析,CL陰極熒光顯微成象及其光譜分析,SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征 |
| 380 | 環(huán)境掃描電子顯微鏡 | XL-30 ESEM | SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征,元素成分線、面分布能譜分析，拉壓在位觀測(cè),掃描電鏡能譜分析,SEM表面形貌結(jié)構(gòu)表征 |
| 381 | 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡（FETEM） | JEM-2100F | TEM掃描透射分析 |
| 382 | 激光共聚焦顯微鏡710 | LSM710 NLO | 腦電采樣分析,活細(xì)胞動(dòng)態(tài)觀察 |
| 383 | T200生物分子相互作用分析系統(tǒng) | Biacore T200 | 分子相互作用 |
| 384 | ITC200等溫滴定微量熱儀 | ITC200 | 分子相互作用 |
| 385 | 圓二色光譜儀 | Jasco-810 | 手性測(cè)定,分子相互作用,蛋白二級(jí)結(jié)構(gòu)分析 |