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華中科技大學(xué)分析測試中心
華中科技大學(xué)分析測試中心成立于2004年，是為學(xué)校教學(xué)、科研提供分析測試服務(wù)的公共大平臺，也是分析測試技術(shù)、方法的研發(fā)中心，同時還是培養(yǎng)高層次人才的重要實驗基地。同時它面向社會開放，積極為地方的科研、經(jīng)濟(jì)建設(shè)服務(wù)。中心將成為一個具備向校內(nèi)外科學(xué)研究、品質(zhì)鑒定、失效分析、案例判斷等提供公正、權(quán)威測試能力的重要機(jī)構(gòu)。
分析測試中心的分析測試技術(shù)力量較雄厚。 中心現(xiàn)有正式人員12人，合同制人員3人以及學(xué)生助管人員15人。其中正式人員：教授/博導(dǎo)1人，副高4人, 中級職稱6人，博士學(xué)位4人，碩士學(xué)位6人。中心設(shè)備配套齊全，目前擁有全部進(jìn)口大型分析測試儀器設(shè)備30余臺, 總價值6500萬人民幣。中心占地1500多平方米，基礎(chǔ)配套設(shè)施齊全，有良好的工作條件。主要測試設(shè)備有：透射電子顯微鏡（含能譜）2；場發(fā)射掃描電鏡（含能譜、電子背散射衍射分析系統(tǒng)和STEM探頭）2；環(huán)境掃描電鏡（配有冷、熱臺附件及能譜分析）；X射線衍射儀（配有冷、熱臺附件）2；X射線熒光探針；核磁共振波譜儀2；園二色光譜儀；熒光光譜儀；傅立葉變換顯微紅外/拉曼光譜聯(lián)用儀；微波萃取/肖解系統(tǒng)；二維液相色譜－離子阱質(zhì)譜聯(lián)用儀；熱分析系統(tǒng)；分光光度計；元素分析儀；氣質(zhì)聯(lián)用儀；等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS），光電子能譜儀，高分辨質(zhì)譜儀等。同時還配備了刻蝕噴鍍儀、離子減薄儀、超薄切片機(jī)等各類高級制樣設(shè)備。
大型儀器列表
| 儀器名稱 | 型號 | 品牌 | 介紹 |
| 01 核磁共振波譜儀400 NMR-400M | AV400 | 瑞士Bruker 公司 | 儀器介紹:Bruker AV400雙通道全數(shù)字化傅立葉超導(dǎo)核磁共振譜儀，是54mm 標(biāo)腔 Long Hold Time 超屏蔽磁體，磁場穩(wěn)定性（1H）小于 4.0 Hz/小時。 |
| 02 核磁共振波譜儀600 NMR-600M | AscendTM 600 MHZ | 瑞士Bruker 公司 | Bruker AscendTM 600MHZ 三通道全數(shù)字化傅立葉超導(dǎo)核磁共振譜儀，是54mm 標(biāo)腔 Long Hold Time 超屏蔽磁體，磁場中心強度14.095特斯拉。 |
| 03 環(huán)境掃描電子顯微鏡ESEM | Quanta 200 | 荷蘭FEI公司 | 儀器介紹:FEI/飛利浦新推出的Quanta系列掃描電子顯微鏡成為目前技術(shù)先進(jìn)、操作方便、維護(hù)簡單的掃描電鏡產(chǎn)品，主要用于各種材料的表面形貌觀察和分析，目前已成為材料科學(xué)、生命科學(xué)研究中不可缺少的工具。新型環(huán)境掃描電鏡實現(xiàn)了人們所追求的在自然狀態(tài)下樣品觀察的目標(biāo)。數(shù)字化、微機(jī)控制掃描電鏡，完全取代模擬圖像，多種記錄方式，方便網(wǎng)上傳輸，并可用鼠標(biāo)完成全部操作功 |
| 04 sirion場發(fā)射掃描電子顯微鏡 FSEM-1 | Sirion 200 | 荷蘭FEI公司 | 儀器介紹:Sirion場發(fā)射掃描電子顯微鏡可實現(xiàn)固體樣品的微觀形貌觀察和微區(qū)能譜成分分析及線分布、面分布分析，可對晶體樣品的晶粒取向和取向關(guān)系等進(jìn)行分析，還可以獲取的電壓下薄樣品的明/暗場掃描透射像。 |
| 05 nova場發(fā)射掃描電子顯微鏡 FSEM-2 | Nova NanoSEM 450 | 荷蘭FEI公司 | 儀器介紹:Nova NanoSEM 450場發(fā)射掃描電子顯微鏡可實現(xiàn)固體樣品的微觀形貌觀察和微區(qū)能譜成分分析及線分布、面分布分析；配備的背散射探頭可獲得樣品的成分襯度圖片；配備的低真空探頭可對不導(dǎo)電樣品進(jìn)行形貌及成分分析，而不需要進(jìn)行噴金處理。 |
| 06 Tecnai G2 20透射電子顯微鏡 TEM | Tecnai G2 20 | 荷蘭FEI公司 | 儀器介紹:該儀器屬于當(dāng)今較先進(jìn)的200kV分析電鏡，可采用LaB6燈絲，具有較高的亮度和分辨率,能快速有效地采集和處理信號, 并將高分辨圖像、明場/暗場圖像、電子衍射和詳細(xì)的微觀分析有機(jī)的結(jié)合起來。配備有既可得到高分辨圖像又可以保持高傾角( 最大40°)的S-TWIN物鏡和機(jī)械穩(wěn)定性優(yōu)異、可精確控制樣品的CompuStage樣品臺，還配有EDAX能譜系統(tǒng)，可以進(jìn)行原位的元素成分分析。緊湊的結(jié)構(gòu)、完美的電子光學(xué)系統(tǒng)，全自動的計算機(jī)控制，確保了儀器的長期穩(wěn)定性。 |
| 07 Tecnai G2 F30場發(fā)射透射電子顯微鏡 FTEM-1 | Tecnai G2 F30 | 荷蘭FEI公司 | 儀器介紹:Tecnai G2 F30 是一臺真正多功能、多用戶環(huán)境的場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器將各種透射電鏡技術(shù)（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS頻譜成像等）進(jìn)行方便靈活地有機(jī)組合，形成了強大的分析功能，從而在同類型儀器中獨占鰲頭。除具有200KV的各種優(yōu)點外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰(zhàn)性的樣品。同時，該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進(jìn)行高質(zhì)量、高穩(wěn)定性的TEM、STEM和納米分析。 |
| 08 x’pert3 powder X射線衍射儀 XRD-1 | x’pert3 powder | 荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器） | 儀器介紹:X’Pert Powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應(yīng)用要求，具有無限擴(kuò)展性。超高頻X射線發(fā)生器，采用第二代陶瓷X光管專利技術(shù)，通過精密機(jī)械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換X光管后無需重新校準(zhǔn)路。 |
| 09 Empyrean X射線衍射儀—粉末衍射 XRD-2 | Empyrean | 荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器） | 儀器介紹:統(tǒng)一的平臺和儀器，樣品范圍齊全，種類和范圍最廣泛的樣品臺。儀器采用了世界上第一個3維探測系統(tǒng)PIXcel3D，用戶可以在各種應(yīng)用設(shè)置之間利用帕納科成功的預(yù)校準(zhǔn)模塊（PreFIX）技術(shù)進(jìn)行快速且低成本的轉(zhuǎn)換，無需重新校準(zhǔn)系統(tǒng)，且不會降低衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 |
| 10 X射線衍射儀—特殊功能 XRD-2-T | Empyrean | 荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器） | 儀器介紹:統(tǒng)一的平臺和儀器，樣品范圍齊全，種類和范圍最廣泛的樣品臺。儀器采用了世界上第一個3維探測系統(tǒng)PIXcel3D，用戶可以在各種應(yīng)用設(shè)置之間利用帕納科成功的預(yù)校準(zhǔn)模塊（PreFIX）技術(shù)進(jìn)行快速且低成本的轉(zhuǎn)換，無需重新校準(zhǔn)系統(tǒng)，且不會降低衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 |
| 11 EAGLE III X射線熒光探針 XRF | EAGLE III | 美國伊達(dá)克斯有限公司EDAX Inc. | 儀器介紹:EAGLE III聚焦型掃描X-射線熒光能譜儀也稱熒光探針，采用聚焦X射線照射，光路系統(tǒng)采用正置式，可在大氣壓力或低真空環(huán)境下檢測樣品。該儀器可進(jìn)行視頻圖象采集和圖象拼接，微區(qū)及整體成分的定性定量分析。 |
| 12 AXIS-ULTRA DLD-600W X射線光電子能譜儀 XPS | AXIS-ULTRA DLD-600W | 日本島津-Kratos公司 | 儀器介紹:AXIS-ULTRA DLD光電子能譜儀配備有多個國際標(biāo)準(zhǔn)窗口的樣品處理室，功能強大且擴(kuò)展性強，配有多樣品停放臺，大幅提高測試效率。樣品處理室、分析室均配有冷熱臺，滿足多層次測試需求。樣品分析室配備UPS、AES、ISS等信號分析器，多角度獲取樣品信息。樣品分析室配備低能懸浮離子槍、荷電中和系統(tǒng)、雙陽極Al/Mg靶等大幅拓展測試樣品范圍。 |
| 13 Diamond DSC 差示掃描熱量儀DSC | Diamond DSC | 鉑金-埃爾默儀器（上海）有限公司（PerkinElmer Instruments） | 儀器介紹:差示掃描量熱儀是在控制溫度下經(jīng)過溫度掃描，測量樣品釋放或吸收熱流的一種技術(shù)?？蓽y量材料隨溫度和時間變化時其溫度和熱流的變化及變化速率，并對材料與熱流有關(guān)的化學(xué)、物理變化進(jìn)行定量及定性分析，預(yù)測材料的熱穩(wěn)定性。 |
| 14 Pyris1 TGA熱重分析儀TGA-1 | Pyris1 TGA | 鉑金-埃爾默儀器（上海）有限公司（PerkinElmer Instruments） | 儀器介紹:熱重分析儀是在程序控制溫度下，測量樣品失重或增重的一種技術(shù)。可測量材料隨溫度和時間變化時其重量的變化及變化速率，并對材料與失重或增重有關(guān)的化學(xué)、物理變化進(jìn)行定量及定性分析，預(yù)測材料的熱穩(wěn)定性。 |
| 15 Diamond TG/DTA熱重/差熱/綜合熱分析儀TG-DTA | Diamond TG/DTA | 鉑金-埃爾默儀器（上海）有限公司（PerkinElmer Instruments） | 儀器介紹:TG/DTA同步熱分析儀可在程序控制溫度下，同時測定試樣重量ΔG和焓變ΔT隨溫度的變化，該溫度差可通過熱流公式換算成熱焓ΔH，從而可兼顧DSC模式。因試樣置于相同的熱處理及環(huán)境條件下，所測得的ΔG和ΔT具有嚴(yán)格的可比性，消除TG和DTA單獨測試時因試樣不均勻性及氣氛等因素帶來得影響 |
| 16 Diamond DMA動態(tài)熱機(jī)械分析儀DMA | Diamond DMA | 鉑金-埃爾默儀器（上海）有限公司（PerkinElmer Instruments） | 儀器介紹:動態(tài)熱機(jī)械分析儀是用來測量樣品在周期交變應(yīng)力（按正弦波變化）作用下，動態(tài)力學(xué)性能（模量）與溫度、時間、頻率等關(guān)系的一種技術(shù)，又可稱為動態(tài)粘彈譜儀。 |
| 17 TMA Q400EM靜態(tài)熱分析儀 TMA | TMA Q400EM | 美國TA儀器 （TA Instruments-Waters LIC） | 儀器介紹:樣品處于程序控制的溫度下，施加一定的機(jī)械力，觀察樣品的尺寸變化隨溫度或時間的函數(shù)，稱為靜態(tài)熱機(jī)械分析儀 |
| 18 STA449F3熱重/差熱綜合分析儀TGA-DSC | 儀器型號:熱重/差熱綜合熱分析儀STA449F3 | 德國耐馳儀器制造有限公司 | 儀器介紹:同步熱分析儀將熱重分析 TG 與差熱分析 DTA 或差示掃描量熱 DSC 結(jié)合為一體，在同一次測量中利用同一樣品可同步得到熱重與差熱信息。根據(jù)某一熱效應(yīng)是否對應(yīng)質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應(yīng)所對應(yīng)的物化過程（如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等）。 |
| 19 Stemi 508體視顯微鏡3D | Stemi 508 | 德國Carl Zeiss | 儀器介紹:圖像效果：彩色立體圖像顯示。專業(yè)數(shù)碼攝像頭500萬有效物理像素,分辨率2560×1920?放大倍數(shù)： 6.3× ～ 100×。各種定焦距和變焦距可選 ?記錄裝置：全數(shù)字化圖像存儲及輸出?樣品要求：表面平整、粗糙的樣品，和含水、透明樣品都可觀察 。 |
| 20 Axiovert 200MAT金相顯微鏡200MAT | Axiovert 200MAT | 德國 Carl Zeiss Light microscope公司 | 儀器介紹:Axiovert 200 MAT 倒置金相顯微鏡采用了先進(jìn)國際標(biāo)準(zhǔn)的ICS無限遠(yuǎn)軸向及徑向雙重色差、校正光學(xué)系統(tǒng)和高精度的制造工藝，能提供高分辯率的圖像。用以鑒別和分析各種金屬及合金的組織結(jié)構(gòu)，應(yīng)用于工廠或?qū)嶒炇疫M(jìn)行鑄件質(zhì)量鑒定，原材料的檢驗或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嘟M織的研究分析等工作。 |
| 21 J-810圓二色譜儀CD | J- | 日本Jasco | 儀器介紹: 圓二色動力學(xué)附件:法國Bio-Logic快速動力學(xué)光譜分析系統(tǒng) 技術(shù)特點: 光 源: 氙燈 (150W) 程控驅(qū)動注射器，每路樣品流量獨立可調(diào)，不受樣品濃度與粘度的影響 高精度完全可調(diào)（納升級）的混合和稀釋比例 極短的死時間，最短為0.25毫秒 一，二，三路流動注射停流裝置 全電腦控制操作 應(yīng)用范圍: 蛋白折疊動力學(xué) Protein Folding Kinetics 酶動力學(xué) Enzyme Kinetics 構(gòu)象轉(zhuǎn)變 Conformational Changes 胞內(nèi)底物運輸 Substrate Transport in Vesicles 第二信使研究 Second Messenger Studies 變溫附件： 技術(shù)指標(biāo): 工作溫度范圍：-20 ～ 200℃ 溫度穩(wěn)定性：±0. 01℃ 分辨率：0.1℃ 絕對溫度校準(zhǔn)：±3℃ 溫度控制：PID |
| 23 VERTEX 70傅立葉變換顯微紅外 FT-IR | VERTEX 70 | 德國Bruker 公司 | ? |
| 24 LabRAM HR800 激光共焦拉曼光譜儀Raman | LabRAM HR800 | Horiba JobinYvon 公司 | 儀器介紹:特別說明：?目前儀器試運行階段收費標(biāo)準(zhǔn)如下： 校內(nèi)收費標(biāo)準(zhǔn)為80元/樣（532nm光源），100元/樣（325nm光源）。自己操作按時間收費：150元/小時，不足一小時按一小時收費。特殊要求的如變溫等200元/小時。 校外收費標(biāo)準(zhǔn)為200元/樣（532nm光源），250元/樣（325nm光源）。自己操作按時間收費：300元/小時，不足一小時按一小時收費。特殊要求的如變溫等400元/小時。 |
| 25 Lambda 35紫外可見分光光度計 UV | Lambda 35 | 美國PerkinElmer公司 | 儀器介紹:特別說明：校內(nèi)收費標(biāo)準(zhǔn)為普通16元/樣，固體24元/樣，校內(nèi)自助普通50元/小時，附件60元/小時，校外委托普通40元/樣，固體60元/樣，附件120元/小時，校外需配置樣品的加收40元/樣。 |
| 26 1100 LC/MSD Trap二維液相色譜-離子阱質(zhì)譜 LC-MS | 1100 LC/MSD Trap | 美國Agilent公司 | ? |
| 27 7890A/5975C氣質(zhì)聯(lián)用儀 GC-MS | 7890A/5975C | Agilent | ? |
| 28 Vario Micro cube元素分析儀EA | Vario Micro cube元素分析儀 | 德國Elementar公司 | 儀器介紹:測試原理:采用動態(tài)燃燒法，在燃燒管內(nèi)填充氧化鎢為催化劑。樣品在高溫下，通過特殊的加氧裝置，使其在高濃度的氧及氦氣流中氧化分解，反應(yīng)生成的混合氣體有氦氣帶入各吸附系統(tǒng)，氮的氧化物經(jīng)過還原銅而全部轉(zhuǎn)化成N2并直接進(jìn)入熱導(dǎo)檢測系統(tǒng)進(jìn)行檢測，而CO2、H2O、SO2通過被特殊的裝置吸附。當(dāng)一種氣體被測定后，其他氣體將按照程序一次解吸而自動測定。含鹵素的樣品，其干擾成份通過銀絲和氧化鋁被吸收。 |
| 29 ELAN DRC-e電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS | ELAN DRC-e | 美國PerkinElmer（珀金埃爾默）公司 | 儀器介紹:40.68MHz自激振蕩射頻發(fā)生器；具有專利接口Plasmalok來控制離子的能量分布范圍，采用兩路射頻，徹底消除接口放電；EasyGlide專利炬管準(zhǔn)直系統(tǒng)；采樣錐錐孔1.1mm，截取錐錐孔0.9mm；真空系統(tǒng)使用兩個機(jī)械泵，兩個渦輪分子泵；離子透鏡無強負(fù)電壓提取離子；鍍金陶瓷四極桿。Autolens自動聚焦離子透鏡技術(shù)，能自動優(yōu)化每一個離子的傳輸率；Simulscan在一次掃描中可以自動擴(kuò)展動態(tài)范圍的離子監(jiān)測器。最為特征的是帶有Axial Field技術(shù)的動態(tài)反應(yīng)池（DRC）技術(shù)，通過化學(xué)反應(yīng)消除不同基體中多原子離子的干擾，可以最大程度地減小甚至消除Fe、Ca、K、As、Se等分析元素受到的干擾，并同時保證了這些分析物的有效傳輸，因而能得到最佳檢出限，就抗干擾能力而言，是目前唯一可以與高分辨率質(zhì)譜相媲美的技術(shù)。 |
| 30 881 Compact IC pro離子色譜儀 IC | 881 Compact IC pro | 瑞士METROHM(瑞士萬通)公司 | 收費標(biāo)準(zhǔn)：校內(nèi)：①1-3個同類樣(120元/樣)②4個以上同類樣(100元/樣)③定量組份大于1個(加50元/組份.樣；校外：①1-3個同類樣(300元/樣)②4個以上同類樣(250元/樣)③定量組份大于1個(加100元/組份.樣) |
| 31 ETHOS微波萃取/消解儀ETHOS | ETHOS E | 意大利 milestone 公司 | ? |
| 32 Opticon 2實時熒光定量PCR儀 | Opticon 2 | 美國MJ research | 儀器介紹:主要附件――MiniPrep60?加樣工作站；生產(chǎn)廠家：瑞士Tecan 公司儀器特點：TecanMiniPrep60 機(jī)器人工作站專為空間有限的實驗室而設(shè)計，它是完成常規(guī)樣品準(zhǔn)備與實現(xiàn)常規(guī)實驗自動化的理想自動化平臺，它能有效提高處理通量、操作的連續(xù)性與安全性。單通道取液器，加樣范圍：2～500 ul?,自動上或退槍頭，取樣和上樣，取液準(zhǔn)確，工作站由計算機(jī)控制?；赪indows 2000/xp的Gemini為控制MiniPrep60的軟件，用戶能通過它控制機(jī)械臂與液體處理功能，還能記錄具體的實驗程序。由于使用了獨特的液體操作數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)，它能幫助用戶管理影響液體處理效果的多種因素。 |
| 33 SolariX 7.0T高分辨傅里葉變換質(zhì)譜儀 FT-MS | SolariX 7.0T | 美國BrukerDaltonics公司 | 儀器介紹:Bruker公司的solarix系列代表了最新的FTMS，是目前市場上最靈敏、最準(zhǔn)確、最高分辨力和最寬動態(tài)范圍的儀器。 |
| 34 SPM9700原子力顯微鏡 AFM | SPM9700 | 日本Shimadzu（島津）公司 | 測試原理:將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學(xué)檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應(yīng)于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。 |
| 35 液相色譜 LC | Agilent 1100 | 美國Agilent公司 | ? |
| 36 液相色譜LC-DAD | Agilent 1260 | 美國Agilent Technologies公司 | 儀器介紹:新的1260Infinity LC 建立了性能和價值的更高標(biāo)準(zhǔn)，600 bar工作范圍，加上80hz的檢測器速率，以及提高了10倍的靈敏度，這是真正的UHPLC性能 |
| 37 GeminiSEM300 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 FSEM-3 特殊功能EBSD | GeminiSEM300 | 德國Carl Zeiss公司 | 儀器介紹:牛津儀器Aztec Nordlys Max3高速EBSD系統(tǒng)，最高在線解析速度870Hz (8*8 binning)，最小工作電壓5kV，可獲得高空間分辨率，實現(xiàn)納米材料取向分布分析。 |
| 38 x’pert pro MPD x射線衍射儀 XRD-3自測 | x’pert pro MPD | 荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器） | 儀器介紹:X’Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學(xué)定位傳感器精確定位和最優(yōu)化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設(shè)計，可針對不同的要求采用最優(yōu)的光學(xué)系統(tǒng)，從而得到最佳的實驗數(shù)據(jù)，達(dá)到最高的實驗效率。 |
| 39 XtaLAB PRO MM007HF C單晶X射線衍射儀 SC-XRD | XtaLAB PRO MM007HF Cu | 生產(chǎn)廠家:日本Rigaku公司 | 儀器介紹:XtaLAB PRO MM007HF Cu單晶衍射儀將X射線（Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上，產(chǎn)生衍射，記錄并分析衍射斑點，結(jié)合晶體結(jié)構(gòu)解析軟件解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。 |
| 40 XRF-1800波長色散型X射線熒光光譜儀 WD-XRF | XRF-1800 | 日本Shimadzu公司 | 儀器介紹:XRF-1800掃描型波長色散X射線熒光光譜儀可實現(xiàn)固體樣品的元素定性定量分析；配備CCD相機(jī)可以直接觀察樣品，精確定位進(jìn)行微區(qū)分析，具有250μm微區(qū)分布成像分析功能。 |
| 41 EPMA-8050G電子探針顯微分析儀EPMA | EPMA-8050G | 日本SHIMADZU公司 | 儀器介紹:EPMA-8050G電子探針配備高亮度肖特基場發(fā)射電子槍；具有二次電子、背散射電子、吸收電子及束流檢測等多種信號檢測器；搭載5通道兼顧高靈敏度與高分辨率的4英寸X射線譜儀，同時配有EDAX Team Octane Super能譜儀附件。可進(jìn)行樣品的微觀形貌和組織等圖像觀察，得到二次電子像、背散射電子成分像、吸收電子像和X-ray像等，利用WDS和EDS可實現(xiàn)樣品表面微區(qū)成分的定性點分析、定量點分析、線分析和面分析等。EPMA-8050G搭載先進(jìn)的場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)和高性能X射線譜儀，具有卓越的空間分辨率和穩(wěn)定的大束流，能夠?qū)崿F(xiàn)微區(qū)表面的超高分辨率和大束流超高靈敏度的面分析。 |
| 42 GeminiSEM300場發(fā)射掃描電子顯微鏡 FSEM-3 | GeminiSEM300 | 德國Carl Zeiss公司 | 儀器介紹:GeminiSEM300場發(fā)射掃描電鏡配備多個檢測器：In-lens環(huán)形二次電子探測器和高靈敏度二次電子檢測器可獲得極表面SE圖像；可伸縮式高靈敏度五象限背散射電子探測器可獲得原子序數(shù)襯度圖像；牛津儀器X-Max 50能譜采用50mm2超大面積SuperATW窗口，可快速檢測Be4-Cf98?元素；牛津儀器EXTREME無窗型超級能譜可在超低電壓下進(jìn)行成分分析，實現(xiàn)超高空間分辨率(10nm)?，可檢測元素范圍下限為Li3；牛津儀器Aztec Nordlys Max3高速EBSD系統(tǒng)，最高在線解析速度870Hz (8*8 binning)，最小工作電壓?5kV，可獲得高空間分辨率，實現(xiàn)納米材料取向分布分析。 |
| 43 TGA8000熱重分析儀 TGA-2 | TGA8000 | 美國PerkinElmer | 儀器介紹:熱重分析儀是在程序控制溫度下，測量樣品失重或增重的一種技術(shù)?？蓽y量材料隨溫度和時間變化時期重量的變化，并對材料與失重或增重有關(guān)的化學(xué)、物理變化進(jìn)行定量及定性分析，預(yù)測材料的熱穩(wěn)定性。 |
| 44 Talos F200X場發(fā)射透射電子顯微鏡FTEM-2 | Talos F200X | 荷蘭FEI公司 | 儀器介紹:Talos F200X場發(fā)射透射電鏡的電子槍為肖特基熱場發(fā)射超亮電子槍，STEM?分辨率可以達(dá)到0.16nm。配備4個SDD探頭的超級能譜集成到了透射電鏡的極靴里面，對稱地放在樣品的上方，可以高效率探測到元素在一維，二維，甚至三維空間的分布信息。Talos F200X還安裝了STEM明場和暗場探頭，可以同時得到STEM的明場像和暗場像。該儀器僅適用于粉體樣品。 |
| 45 Orbitrap LC/MS (Q Exactive)高分辨液質(zhì)聯(lián)用儀 HR-LC-MS | Orbitrap LC/MS (Q Exactive) | 德國Thermo Fisher 科技有限公司 | 儀器介紹:●?? 1．體內(nèi)藥物分析和藥代動力學(xué)研究；●?? 2．環(huán)境污染物降解產(chǎn)物分析；?●?? 3．天然提取物分析；?●?? 4．未知物的結(jié)構(gòu)剖析；●?? 5．多肽和蛋白質(zhì)分析。 |
| 46 SolidSpec-3700 紫外可見近紅外分光光度計 UV-2 | SolidSpec-3700 | 日本島津公司 | 儀器介紹:SolidSpec-3700紫外可見近紅外分光光度計可實現(xiàn)液體、粉末、薄膜樣品從紫外到近紅外波段的吸收、透過、反射的測量，可變角附件可實現(xiàn)5°~70°入射角度的絕對反射測量。 |
| 47 Prodigy Plus電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES | Prodigy Plus | 美國Leeman Labs公司 | 儀器介紹:儀器采用CMOS 固態(tài)檢測器，是目前 ICP 光譜儀中面積最大有效像素點最多的檢測器，數(shù)據(jù)讀取速度是傳統(tǒng)檢測器的40 倍。等離子體光源納入整體光路之中，確保儀器具有優(yōu)異的穩(wěn)定性以及極短的開機(jī)穩(wěn)定時間。40.68MHz 高頻發(fā)生器，耦合效率高，產(chǎn)生等離子體的穩(wěn)定性更高，中心通道寬，樣品利用率高，容易點火，火炬穩(wěn)定。H-G?雙鉑網(wǎng)霧化器(Hildebrand Grid Nebulizer)，具有低殘留、響應(yīng)快、高效率等特點，不僅提高了靈敏度，降低了檢出限，而且還可直接噴入高鹽樣品、有機(jī)溶劑及含氫氟酸的樣品，具有廣泛兼容特性。 |