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西安交通大學(xué)分析測(cè)試共享中心
西安交通大學(xué)分析測(cè)試共享中心（簡(jiǎn)稱：中心）成立于2016年5月，是面向?qū)W校和社會(huì)開放的大型儀器設(shè)備共享測(cè)試平臺(tái)，屬于學(xué)校直屬二級(jí)單位，正式編制16人，設(shè)主任、技術(shù)副主任、質(zhì)量副主任、秘書各1人，技術(shù)人員12人。中心位于興慶校區(qū)西門附近，建筑面積3400平米，首期投入設(shè)備購(gòu)置經(jīng)費(fèi)7600萬(wàn)元。中心本著加強(qiáng)統(tǒng)籌、共建共享、優(yōu)化資源、科學(xué)管理和高效運(yùn)行的原則，以大型分析測(cè)試儀器為載體，憑借一流的技術(shù)團(tuán)隊(duì)和高效的管理模式，為學(xué)校開展高水平的教學(xué)科研和培養(yǎng)引進(jìn)高水平的人才提供有力支持。
中心已購(gòu)置的28臺(tái)套大型儀器設(shè)備在規(guī)劃過程中充分考慮了設(shè)備的先進(jìn)性、學(xué)科需求以及與已有設(shè)備的互補(bǔ)性，涵蓋微區(qū)分析、無(wú)機(jī)成分分析、有機(jī)成分分析和材料性能測(cè)試四個(gè)方向，可開展微結(jié)構(gòu)與形貌分析、有機(jī)成分與結(jié)構(gòu)分析、無(wú)機(jī)成分分析以及材料的光、熱、磁性等性能分析等分析測(cè)試服務(wù)。中心目前有三臺(tái)透射電鏡(FEI Talos F200C、JEOL JEM-F200和JEOL JEM-2100 Plus)，兩臺(tái)掃描電鏡(Zeiss GemniSEM500和Hitachi SU3500)，核磁共振波譜儀(Bruker, AVANCE III HD 600 MHz)、高分辨質(zhì)譜儀(Waters, I-class+VION IMS QTof)，顯微紅外光譜儀(Bruker, Vertex70)，激光拉曼光譜儀(Horiby, LabRAM HR Evolution)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(PE, 350D)、X射線光電子能譜儀(Thermo, ESCALAB Xi+)、X射線熒光光譜儀(Bruker, S8 TIGER)、X射線衍射儀(Bruker, D8 Advanced)等大型分析測(cè)試設(shè)備，并有少量設(shè)施齊備的實(shí)驗(yàn)室供制樣和臨時(shí)實(shí)驗(yàn)使用。其中，Talos F200C是西北地區(qū)第一臺(tái)冷凍透射電鏡，廣泛用于結(jié)構(gòu)生物學(xué)的研究，可為生命、生物、醫(yī)學(xué)、化學(xué)和物理等學(xué)科的軟物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析開展特色服務(wù)。
中心持續(xù)加強(qiáng)技術(shù)隊(duì)伍建設(shè)，開展儀器操作技能培訓(xùn)，不斷提升中心技術(shù)水平，建立一支由資深技術(shù)專家、責(zé)任教授、設(shè)備工程師、研究生助管組成的多級(jí)儀器設(shè)備管理團(tuán)隊(duì)，保障設(shè)備使用效益。中心設(shè)備的運(yùn)行管理按學(xué)校儀器設(shè)備共享的要求，所有設(shè)備接入學(xué)校大型儀器設(shè)備物聯(lián)共享系統(tǒng)，校內(nèi)外用戶均可通過系統(tǒng)進(jìn)行網(wǎng)上預(yù)約使用，中心根據(jù)各科研團(tuán)隊(duì)的需求選拔和培養(yǎng)自主操作用戶，力爭(zhēng)實(shí)現(xiàn)設(shè)備24小時(shí)不間斷運(yùn)行，提高設(shè)備使用效率。
中心按照學(xué)校資源優(yōu)化配置改革的要求，積極參與學(xué)校儀器設(shè)備的開放共享。一方面，中心作為學(xué)?，F(xiàn)代分析的重要基地，面向校內(nèi)外用戶提供分析測(cè)試服務(wù)，并積極組織開展分析測(cè)試技能和技術(shù)培訓(xùn)。另一方面，中心作為學(xué)校的學(xué)科交叉創(chuàng)新平臺(tái)，充分利用中心設(shè)備的高、精、尖功能和高水平技術(shù)隊(duì)伍，加強(qiáng)與理工醫(yī)等各學(xué)科的密切合作和互動(dòng)，鼓勵(lì)研究團(tuán)隊(duì)與技術(shù)人員一起進(jìn)行設(shè)備新功能開發(fā)和高水平研究。通過創(chuàng)新的運(yùn)行機(jī)制和管理模式，充分發(fā)揮中心對(duì)學(xué)?？茖W(xué)研究和學(xué)科建設(shè)的強(qiáng)有力支撐作用，以及對(duì)社會(huì)的服務(wù)功能。
大型儀器列表
| 編號(hào) | 儀器名稱 | 型號(hào) | 品牌 | 功能/用途 |
| 1 | 磁學(xué)測(cè)量計(jì) | MPMS-SQUID VSM-094 | Quantum | 針對(duì)粉末樣品和塊體樣品（長(zhǎng)寬高控制在3*3*5mm內(nèi)），能夠開展變溫磁化率（MT曲線）、磁滯回線 （MH曲線）、交流曲線（AC）和 掃場(chǎng) cole-cole曲線等常規(guī)磁性測(cè)試。 |
| 2 | 激光共聚焦顯微鏡 | TCS SP8 STED 3X | Leica | 可以實(shí)現(xiàn)50 nm以下的分辨率，可進(jìn)行單色、雙色及三色熒光標(biāo)記固定細(xì)胞或活細(xì)胞的STED超高分辨成像。超高分辨率激光共聚焦顯微鏡具有單分子探測(cè)（SMD）功能，可進(jìn)行溶液中、固定細(xì)胞或者活細(xì)胞中的熒光壽命成像（FLIM）的檢測(cè)和熒光相關(guān)光譜（FCS）的檢測(cè) |
| 3 | 原子吸收光譜儀 | PinAAcle900T? | PerkinElmer | 原子吸收法是無(wú)機(jī)元素定量分析中最常用的分析方法之一，廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、機(jī)械、化工、食品、生物醫(yī)藥、環(huán)境、材料……等等眾多學(xué)科領(lǐng)域。 |
| 4 | ZETA電位及納米粒度儀 | ZSE? | ?Zetasizer? | 能夠簡(jiǎn)單快捷的表征納米顆粒、膠體、蛋白質(zhì)和高分子的物理特性，可廣泛用于納米材料及生物醫(yī)藥等諸多領(lǐng)域。也適用于廢水中帶電膠體物質(zhì)等電點(diǎn)的自動(dòng)測(cè)量、絮凝劑種類的選擇、絮凝劑濃度的自動(dòng)滴定、廢水電導(dǎo)率或添加劑濃度隨滴定PH值的函數(shù)變化關(guān)系測(cè)試 |
| 5 | X射線衍射儀 | D8 ADVANCE | Bruker | 能夠精確對(duì)金屬和非金屬多晶粉末樣品進(jìn)行物相檢索分析、物相定量分析、晶胞參數(shù)計(jì)算和固溶體分析、晶粒度及結(jié)晶度分析等 |
| 6 | X射線熒光光譜儀 | ?S8 Tiger? | Bruker | 可用于固體、松散粉末、液體樣品、不規(guī)則樣品等4Be-92U之間元素的定性、定量及無(wú)標(biāo)樣定量分析，分析范圍從亞ppm級(jí)到100% |
| 7 | 軟物質(zhì)冷凍電鏡 | Talos F200C | FEI | 配有三維重構(gòu)功能，可進(jìn)行低溫單顆粒三維重構(gòu)、低溫蛋白質(zhì)電子晶體學(xué)和低溫電子斷層三維成像等分析； 安裝有高通量冷凍電鏡數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理及存儲(chǔ)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)巨量數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)并可進(jìn)行單顆粒三維結(jié)構(gòu)分析等運(yùn)算； 可對(duì)常規(guī)生物樣品超微結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像，主要用于細(xì)胞生物學(xué)、微生物及病毒學(xué)、材料學(xué)等的研究； 配套超薄切片機(jī)Leica EM UC7及配件Leica EM FC7，可高效高質(zhì)量完成生物冷凍超薄切片制樣 |
| 8 | 超高效液相色譜離子淌度-四極桿串聯(lián)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀 | I-Class VION IMS QTof | WATERS | 可高效便捷的實(shí)現(xiàn)分子式確認(rèn)和未知物分子式推斷、化合物的表征和定性、代謝物分析、代謝組學(xué)、蛋白質(zhì)組學(xué)、定量蛋白質(zhì)組學(xué)和痕量多目標(biāo)物質(zhì)的快速篩查與定量（農(nóng)殘篩查、違禁藥物檢測(cè)等）等分析測(cè)試工作 |
| 9 | X射線光電子能譜儀 | ESCALAB? Xi+ | Thermo Fisher | 主要用于化學(xué)、材料、能源、機(jī)械等領(lǐng)域，可測(cè)試粉末、塊狀、纖維、薄膜等樣品；分析內(nèi)容包括表面元素組成及化學(xué)態(tài)定性定量分析、表面元素深度分析、表面元素分布分析等 |
| 10 | 全自動(dòng)元素分析儀 | EA3000 | EUROVECTOR | 有機(jī)物和選定無(wú)機(jī)物C、H、N、S、O元素含量分析 |
| 11 | 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 | 350D ICP-MS | NexION | 可進(jìn)行定性分析、半定量分析、定量分析，以及同位素比值及同位素稀釋分析等，也特別適合納米顆粒的元素表征 |
| 12 | 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 | GeminiSEM 500 | Zeiss? | 可廣泛應(yīng)用于微區(qū)形貌和成分分析 |
| 13 | 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 | SU3500 | 日立 | 可廣泛用于材料微區(qū)形貌、成分以及晶體微區(qū)取向等的研究 |
| 14 | 核磁共振波譜儀 | AVANCE III HD 600 MHz | Bruker | 可用于分子結(jié)構(gòu)測(cè)定、化合物鑒定、聚合物表征、藥物研發(fā)、催化研究等 |
| 15 | 顯微紅外光譜儀 | VERTEX70 | Bruker | 該設(shè)備除了進(jìn)行常規(guī)的化合物分子結(jié)構(gòu)分析、表面官能團(tuán)的種類和空間分布、反應(yīng)機(jī)理研究等，還可以進(jìn)行一些特色研究，例如：各種組織和細(xì)胞的紅外顯微光譜和化學(xué)成像、自制雪中流體包裹體的紅外顯微光譜等。 |
| 16 | 全自動(dòng)多功能氣體吸附儀 | ASAP 2020 Plus HD88?? | ? | 用于確定粉末原料、分子篩、活性炭的比表面積、介微結(jié)構(gòu)及分布、體積等特性進(jìn)行表征 |
| 17 | 全自動(dòng)程序升溫化學(xué)吸附儀 | Auto ChemTM?II 2920 | 麥克儀器公司 | 能夠進(jìn)行多種化學(xué)吸附和程序升溫反應(yīng)研究，可獲得催化劑、催化劑載體和其他各種材料物理特性的信息 |
| 18 | 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀 | DMA242E | Netzsch | ? |
| 19 | 熱重同步差熱分析儀 | TGA/DSC3+?至尊型 | METTLER TOLEDO | TGA/DSC3+在定性、定量表征材料的熱性能、物理性能以及穩(wěn)定性等方面有著廣泛的應(yīng)用 |
| 20 | 激光拉曼光譜儀 | HR Evolution | horiba | 1、無(wú)機(jī)、有機(jī)、高分子等化合物的定性分析；? 2、材料晶型變化、結(jié)構(gòu)及其缺陷的研究；3、材料成分表面分布及其深度分布變化研究； 4、高分子結(jié)構(gòu)變化、相容性、應(yīng)力松弛及分子相互作用研究； 5、材料的變溫催化過程分析。6、生物大分子的構(gòu)象變化及相互作用研究；7、表面增強(qiáng)拉曼分析； 8、超晶格材料研究：可通過測(cè)量超晶格中的應(yīng)變層的拉曼頻移計(jì)算出應(yīng)變層的應(yīng)力，根據(jù)拉曼峰的對(duì)稱性，掌握晶格的完整性。9、半導(dǎo)體材料研究：拉曼光譜可測(cè)出經(jīng)離子注入后的半導(dǎo)體損傷分布，可測(cè)出半磁半導(dǎo)體的組分，外延層的質(zhì)量，外延層混品的組分載流子濃度 |
| 21 | 瞬態(tài)穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀 | FLS9 | Edinburgh | 瞬態(tài)熒光光譜配有265，375和450 nm三色脈沖激光，可對(duì)大部分熒光材料熒光壽命進(jìn)行檢測(cè) |
| 22 | 紫外-可見-近紅外分光光度計(jì) | ?Lambda950 | Perkin Elmer | 可應(yīng)用于各種形態(tài)材料（溶液、薄膜、粉末等）反射率、透射率、吸收率、吸光度等性能進(jìn)行表征；同時(shí)也是研究物質(zhì)的成分、結(jié)構(gòu)和物質(zhì)間相互作用的定性與定量 |
| 23 | 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 | JEM-F200?(HR) | JEOL | 1、微觀結(jié)構(gòu)研究：材料的形貌、結(jié)構(gòu)、缺陷和界面的微觀分析，包括明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像、STEM像、高角環(huán)形暗場(chǎng)像、選區(qū)電子衍射、背散射電子/二次電子像和高分辨分析；2、材料微觀結(jié)構(gòu)成分研究：成分的定性和半定量分析，元素的點(diǎn)、線和面分析等 |
| 24 | 六硼化鑭透射電子顯微鏡 | JEM-2100Plus | JEOL | 該設(shè)備與JEM-F200 (HR)在功能上形成中高搭配，可完成材料、生命、納米等諸多領(lǐng)域的微結(jié)構(gòu)分析需求 |
| 25 | 多功能離子減薄儀 | ?EM RES102 | Leica | 該設(shè)備廣泛用于無(wú)機(jī)薄片樣品的大面積減薄以有利于TEM觀察，也可對(duì)樣品表面污染層或涂層進(jìn)行清潔，或用于樣品表面的離子束刻蝕和切割。 |